■ 產品說明
穩態熱反射測試法將基于雷射熱反射的技術（TDTR、FDTR）與穩態熱傳導技術結合再一起，進行快速、小尺度的穩態量測。
寬廣的熱傳導系數測試范圍從0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能測試小至幾百微米的樣品。透過光纖組件和雷射的系統提供便利的使用，可選配的FDTR測量模塊量測徑向、橫向的熱傳導，以及材料邊界熱阻抗。搭配自動平臺可以做到100mm的熱傳導分布圖。
穩態熱反射測試法將基于雷射熱反射的技術（TDTR、FDTR）與穩態熱傳導技術結合再一起，進行快速、小尺度的穩態量測。
寬廣的熱傳導系數測試范圍從0.05W/mＫ ~ 2500W/mＫ，SSTR-F甚至能測試小至幾百微米的樣品。透過光纖組件和雷射的系統提供便利的使用，可選配的FDTR測量模塊量測徑向、橫向的熱傳導，以及材料邊界熱阻抗。搭配自動平臺可以做到100mm的熱傳導分布圖。
SSTR-F是由弗吉尼亞大學ExSiTE 實驗室Professor Patrick Hopkins 開發。
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
For paper reference: A steady-state thermoreflectance method to measure thermal conductivity - Review of Scientific Instruments 90, 024905 (2019); https://doi.org/10.1063/1.5056182
| 適用材料 | 固體、液體 |
|---|---|
| 熱傳導范圍 | 0.05 to 2500W/mk |
| 熱點尺寸 | >100um |
| 溫度范圍 | 80K to 600K |
| 精確度 | 5% |
| 再現性 | 2% |
| FDTR | |
| 熱傳導范圍 | 0.05 to 2500W/mk |
| 量測方向 | 厚度方向、平面方向 |
| 薄膜厚度 | >5nm |
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