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北京波威科技有限公司
產品特點:實時晶體定向分析角度精度可達0.2度(需求可達0.02度)完整解決方案,包括X射線發生器、相機、測角儀和定向軟件定制方案,可在現有的系統基礎上升級現場安裝與培訓多個主要晶體研究實驗室驗證 數字化X射線勞厄解決方案系統采用*的背向散射角度采集和最終對準精度可以低至0.2度(需求可達0.02度),與高靈敏度偏振片相比,曝光時間
數字化X射線勞厄解決方案
系統采用*的背向散射角度采集和最終對準精度可以低至0.2度(需求可達0.02度),與高靈敏度偏振片相比,曝光時間可減少2個數量級以上,實現實時勞厄圖案記錄。
結合電動樣本旋轉平臺,系統的晶體定位程序變得更簡單、更靈活。
采集軟件從電腦提供準備好索引的數字圖像到Linux程控設備,系統利用Orient Express軟件分析圖像,獲得晶向或用已知結構對現有晶體進行標引。
集成光束準直到數字勞厄探測器,比薄膜圖案采集快10倍以上
數字勞厄探測器允許比薄膜更快的收集
相機系統可安裝銅、鉬或者鎢靶X光源(長細聚焦、細聚焦或者點聚焦)。X光源在相機內準直后直接照射到樣品上,可與高靈敏度偏振片的凈磁通增益相當。根據晶體材料和使用光源,可以在1至30秒曝光后記錄勞厄圖案。
數字化X射線勞厄探測器可以在一小時內安裝,替代傳統的偏振勞厄感光片
數字勞厄相機配備了綜合校準套件,技術人員/工程師可以對傳統的膠片暗盒探測器進行升級換代。
準直器的選擇,可以讓你根據測量晶體種類選擇正確的通量/分辨率。
標準數字化勞厄相機比高靈敏度偏振片減少了兩倍的數據采集時間。
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