基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
X-Strata920 可被配置為三個不同的樣品臺配置，以應對各種不同的樣本形狀和尺寸。標準臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個可移動托盤，可快速被配置，以搭配小或大零件（6英寸）。電動X-Y臺可自動分析多個樣品或一個樣品的多個位置。
l正比計數器系統
l元素范圍：鈦- 鈾
l樣品艙設計：開槽
lXY 軸樣品臺選擇： 固定臺、加深臺、自動臺
l樣品尺寸：270 x 500 x 150毫米
l數量準直器：6
l濾波器：3
l小的準直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
lSmartLink 軟件
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