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上海羽宸光電科技有限公司
光斑分析儀
光斑分析儀
光斑分析儀(相機型)
CCD、CMOS、Si 探測器光束分析相機。波長從190nm到16µm。
子產品分類:
WinCamD 系列 BladeCam系列 TaperCamD 系列
波長190nm-16um 波長190nm-1605nm 波長355nm-1605nm
掃描狹縫式光束分析儀
掃描狹縫式光束分析儀,Si,Ge,InAs,InGaAs探測器可用。波長從190納米到3.9µm。
子產品分類:
Beam’R系列 BeamMap 系列 BeamScope系列
光束分析儀選擇指南:
按應用區分:
·紫外
·通信/近紅外
·太赫茲THZ
·FIR遠紅外
·M2測量配件
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