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更新時間：2021-06-29 17:07:26瀏覽次數(shù)：291次

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產(chǎn)品簡介

原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱

詳情介紹

原子力顯微鏡（AFM）是在樣品表面用微小的探針進(jìn)行掃描，通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700HT更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。

新開發(fā)的可快速響應(yīng)的HT掃描器加之軟件與控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)的優(yōu)化，成功實(shí)現(xiàn)掃描速度比傳統(tǒng)設(shè)備快5倍以上。

樣品交換時也可保持激光穩(wěn)定照射懸臂。照射穩(wěn)定性優(yōu)異，分析時間也大幅度縮短。

可從不同角度放大拉伸圖像進(jìn)行確認(rèn)。鼠標(biāo)操作簡單，更可進(jìn)行3D斷面形狀分析。

按照操作指南指導(dǎo)操作順序，使用導(dǎo)航功能直接鎖定觀察位置，實(shí)現(xiàn)了SPM的快速簡便的觀察

具備豐富的測定模式和優(yōu)異的擴(kuò)展性，可對不同硬度、不同導(dǎo)電性能等各式樣品進(jìn)行觀察分析。

控制氣氛掃描探針顯微鏡 WET-SPM
可以控制樣品和周邊環(huán)境，在可控氣氛下進(jìn)行樣品處理，并直接進(jìn)行SPM觀察。

選配系統(tǒng)具有溫度濕度控制單元、樣品加熱冷卻單元、樣品加熱單元、吹起單元。

粒度分析軟件
從圖像數(shù)據(jù)中選取復(fù)數(shù)顆粒，對每一顆粒進(jìn)行特征量的計(jì)算，并進(jìn)行分析、顯示，以及及進(jìn)行統(tǒng)計(jì)處理。

超微小硬度計(jì)復(fù)合型SPM系統(tǒng)SPM+TriboScope（TriboScope為美國Hysitron公司產(chǎn)品）可以進(jìn)行極薄膜的硬度試驗(yàn)和壓痕試驗(yàn)。
微小部熱分析試驗(yàn)儀器復(fù)合型SPM系統(tǒng) SPM+nano-TA2（nano-TA2為Anasys Instruments公司產(chǎn)品）可以進(jìn)行樣品表面的三維形貌觀察和點(diǎn)的熱分析。

觀察模式	標(biāo)準(zhǔn)	接觸模式動態(tài)模式相位模式水平力模式（LFM）力調(diào)制模式矢量掃描模式
觀察模式	選購件	磁力（MFM）模式）電流模式表面電位（KFM）模式
分辨率	XY	0.2 nm
分辨率	Z	0.01 nm
AFM頭部	位移監(jiān)測系統(tǒng)	光源/光杠桿/檢測器
	光源	激光二極管（On/Off均可）更換樣品無需調(diào)整光路
	檢測器	光敏二極管
掃描器	驅(qū)動元件	管狀壓電元件
掃描器	掃描范圍（XYZ）	30μm×30μm×5μm　（標(biāo)準(zhǔn)） 125μm×125μm×7μm　（選購） 55μm×55μm×13μm　（選購） 2.5μm×2.5μm×0.3μm　（選購）
樣品臺	樣品形狀	φ24mm×8mm
	樣品裝載方式	頭部滑動機(jī)構(gòu) 懸臂安裝狀態(tài)下可直接裝載樣品
	樣品固定方式	磁性固定
Z軸驅(qū)動機(jī)構(gòu)	驅(qū)近方式	全自動驅(qū)近
Z軸驅(qū)動機(jī)構(gòu)	可驅(qū)近范圍	10mm
信號顯示板	顯示量	檢測器的總?cè)肷涔饬浚〝?shù)字顯示）
減震機(jī)構(gòu)	減震臺	SPM單元內(nèi)置
光學(xué)顯微鏡觀察	方式	分束器滑動機(jī)構(gòu)
專用風(fēng)擋	方式	無需或者使用氣氛控制腔體
氣氛控制	方式	無需改造SPM單元可直接導(dǎo)入氣氛腔體