公司介紹：

NTT-AT有著多年的X射線、極紫外光學配件的研發與銷售經驗。在范圍內，通過與眾多來自同步輻射科學，阿秒科學，高強度物理學等領域的科學研究者開展緊密合作，積累了大量*的設計與制造技術，其產品在業內享有很高的評價。NTT-AT提供的菲涅爾波帶片有著高分辨率，高聚光效率等特點，適合被各種輻射光設施使用。另外，分辨率測試卡被當作業界的標準。不只是學術研究，在X射線的檢查裝置開發現場也被廣泛使用。XUV鏡片，XUV濾波片不僅對阿秒科學有著幫助，對下一代的光刻研究也有這重要作用。NTT-AT將在XUV,EUV, X線領域給予客戶在研發上的幫助。

產品介紹：

用于X射線分析的分辨率評估圖的事實上的標準

優點

恩梯梯技術公司的X射線分辨率評估圖被應用于X射線顯微鏡、X射線微光束分析和X射線成像等需要超高分辨率的X射線分析。此已成為事實上標準的X射線圖被廣泛應用于世界上許多地方。
恩梯梯技術公司的X射線圖的特點是高耐X射線輻射性、超清晰圖案和低邊緣粗糙度。本公司基于Ta吸收體圖的SiC膜極其精確，能為用戶的X射線分析系統評估提供清晰的圖像。
您不嘗試一下這事實上標準的性能嗎？

特點：

有三種X射線圖可應用于各種方面：標準型、高分辨率和高對比度型以及超高分辨率型。可為用戶的系統定制圖案布局和基板尺寸。