公司介紹：
德國Incoatec公司在基于薄膜技術的X射線光學器件方面擁有20年以上的經驗。Incoatec公司的光學器件被用于的X射線衍射測量、光譜測定和同步加速器射束線上。主打產品包括用于各種領域和針對微焦點光源方案的多層X射線光學器件。用新的光學器件和X射線源來升級X射線分析設備。計算機化的光學器件模擬、各類襯底的生產和薄膜表征使INCOATEC的服務更為完善，為重工業，化學，制藥，半導體產業，生命科學和納米技術提供解決方案，是可靠，高效和用戶友好型產品，具備德國制造的精髓。
產品介紹：
由狹縫造成的寄生散射是X射線分析中是的問題，用戶和制造商不得不調整實驗裝置以避免這種現象。更低光子通量造成實驗時間增加，更大光束截捕器造成分辨率下降，額外配置防散射針孔造成光束塑形針孔到樣品距離增加，以及總體更低信噪比造成數據質量下降。
新型SCATEX針孔基本不產生寄生散射，并且克服了上述問題： 因此，防散射針孔可被移除，系統尺寸縮小，分辨率與光子通量提高，數據質量得到改善。
產品特點：
無針孔寄生散射
分辨率與光子通量增強
針孔的調整校準更加簡便快速
無需放散射針孔
可提供特殊的解決方案
同步輻射以及家庭實驗室SAXS系統成功驗證
基本參數：
| 材質 | 單晶鍺(Ge) | 單晶鉭(Ta) |
| 孔徑 | 20-3000 um | 100-2000um |
應用介紹：
常規實驗室系統上的應用
常規實驗室中的SAXS儀器通常使用三針孔準直系統，其中前兩個針孔用于限定光束的大小與發散角， 第三個針孔充當防輻射針孔以用來吸收孔徑產生的寄生散射，如下圖所示。
與此相反，SCATEX針孔在常規實驗室SAXS裝置應用中具有很高的潛力，因為其提高光子通量同時降低主光速路徑長度。下圖中體現了SCATEX針孔大幅度抑制寄生散射。
Fig.2 Comparison of a conventional Pt/Ir pinhole and a SCATEX-Ge pinhole, both with 300 μm diameter. Measurement time: 100 s.
圖中的兩種類型針孔（即市售Pt/Ir常規針孔和SCATEX鍺針孔），其大小相同（均為300μm），其最后的成像效果都是在同樣的沒有放置防輻射針孔的兩針孔SAXS設備條件下進行的。所測試的孔被在一次束并作為光束限定針孔居中地對準。
同步輻射上的應用
無散射鍺針孔
以下測試都是C.Gollwitzer在同步輻射（BESSY II）的PTB的具有四晶體單色器光束線站上進行，其輸出能量為8kev，光通量大于1010ph/s。所有的測試針孔作為光束限定針孔被放置于主光束中心進行校準，同時沒有使用防輻射針孔。
下面對不同的針孔進行了比較：
1、銅箔的500μm針孔；2、市售的500μmPt/Ir針孔；3、鍺制SCATEX針孔。即使在10倍的測量時間下，SCATEX針孔引起的寄生散射少2- 3個數量級。由于SCATEX針孔優異的結構質量，其展示了在更高Q值空間散射的減少和環形的散射圖案。
Fig.3 Scattering intensity vs. q-plot. Data are corrected for respective exposure times and normalized to the primary beam photon flux and to the solid angle.
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