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上海杜美精密儀器有限公司
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掃描電子顯微鏡Apreo功能豐富的高性能SEMApreo復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生高分辨率和信號選擇
掃描電子顯微鏡
Apreo
功能豐富的高性能 SEM
Apreo 復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的研究平臺，并且不會降低磁性樣品性能。
Apreo 受益于透鏡內背散射探測，這種探測提供很好的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復合透鏡通過能量過濾進一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式現在的樣品倉壓力為 500 Pa，可以對要求嚴苛的絕緣體進行成像。
通過這些優勢（包括復合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應對未來的研究難題。
Apreo 材料科學應用新的 Apreo 掃描電子顯微鏡 (SEM) 可對納米顆粒、金屬、復合材料和涂層等多種材料進行檢測，并且整合了創新功能，可提供更好的分辨率、對比度和易用性。
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