植被地物光譜測量與分析

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更新時(shí)間：2021-06-15 16:41:06瀏覽次數(shù)：217次

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產(chǎn)品分類 品牌分類

  地物光譜測量

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北京安洲科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

植被指數(shù)（VI）是兩個(gè)或多個(gè)波長范圍內(nèi)的地物反射率組合運(yùn)算，以增強(qiáng)植被某一特性或者細(xì)節(jié)。所有的植被指數(shù)要求從高精度的多光譜或者高光譜反射率數(shù)據(jù)中計(jì)算。未經(jīng)過大氣校正的輻射亮度或者無量綱的DN值數(shù)據(jù)不適合計(jì)算植被指數(shù)。

詳細(xì)介紹

安洲科技不同型號地物光譜儀可提供植被指數(shù)的自動(dòng)化處理功能。

其中包括進(jìn)行寬帶綠度、窄帶綠度、光合有效輻射等多種植被指數(shù)的計(jì)算。這些植被指數(shù)可以簡單度量綠色植被的數(shù)量和生長狀況、葉綠素含量、葉子表面冠層、葉聚叢、冠層結(jié)構(gòu)、植被在光合作用中對入射光的利用效率、測量植被冠層中氮的相對含量、估算纖維素和木質(zhì)素干燥狀態(tài)的

碳含量、度量植被中與脅迫性相關(guān)的色素、植被冠層中水分含量等。