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麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度和粒形分析 CAMSIZER M1

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產品簡介

粒度和粒形分析器CAMSIZERM1高分辨率靜態圖像分析(ISO13322-1)從0

詳細介紹

粒度和粒形分析器 CAMSIZER M1

高分辨率靜態圖像分析(ISO 13322-1)從0.5 μm到1500 μm
1,810萬像素彩色攝像頭
可達6個放大倍數
對非常小的顆粒進行準確分析
優異的圖像質量
高精度形狀分析
色散模塊M-Jet
自動測量，操作方便
縫線功能
使用Particle X-Plorer進行綜合評價

優勢

1. 分析儀配有五個鏡頭，放大率從2.5倍到50倍。可根據要求增加一個額外鏡頭(如100x)。

2. 一個1810萬像素的彩色相機捕捉粒子圖像具有優異的分辨率，高度準確的分析結果。

3. 樣品臺由一個帶有四個可編程功能鍵的三軸操縱桿控制。

4. 高精度的樣品臺有225毫米× 76毫米寬的移動范圍，位置精度為3 μm，位置重復性為1 μm。因此，可以分析一個區域對應8個標準的物體幻燈片。

5. 樣品可以在透射光或入射光中進行分析。強大的LED光源，保證了均勻的照明和優良的圖像質量。

6. 高效的分散模塊M-Jet確保在數秒內完成粉末樣品的制備。

M-JET使顆粒更好分散

高效的顯微分析樣品制備
由于任何分析都與前面的樣品制備一樣好，因此開發了分散模塊M-Jet，以確保在CAMSIZER M1測量前干燥粉末的均勻分布和有效分散。新的分散單元M-Jet保證了顯微鏡分析用各種載體上的樣品制備。功能原理為負壓，不需要壓縮空氣供給。由于的噴嘴幾何結構，即使是十分細小的粉末也能有效地分離和均勻地分布在目標板上。

M-Jet的好處:

分散采用負壓10kpa - 70kpa
各種分散噴嘴
可儲存8個SOP
通過觸摸板和控制旋鈕操作舒適

典型應用

CAMSIZER M1靜態圖像分析適用于廣泛的分散系統。特別是在研究開發中，該方法信息量大，評價選項多，具有很高的應用價值。

化學試劑
纖維制品
陶瓷粉體
細磨拋光劑

工業金剛石
食物
金屬粉末
礦物

活性藥物成分和輔料
聚合物
調色劑

靜態圖像分析還是動態圖像分析?

粒子特征可以通過靜態或動態圖像分析來實現。對于動態圖像分析(ISO 13322-2)，粒子流生成，由相機拍攝和評估。靜態圖像分析(ISO 13322-1)是基于顯微鏡;粒子被放置在一個物體板上，并被一步一步地拍攝下來。因此，不同之處在于粒子的運動:對于動態圖像分析，粒子是在運動中捕獲的，而對于靜態圖像分析，粒子是靜止的。動態圖像分析非常適合于散裝貨物、粉末、顆粒和懸浮物的常規測量。該方法具有樣品通量高、可靠、重現性好等特點。它經常被用作常規篩析的替代方法。
靜態圖像分析主要用于測量狹窄的尺寸分布，針對非常細的顆粒的表征。這種方法提供了高分辨率和pin-sharp粒子圖像，允許大小和形狀描述與非常高的精度。該技術被廣泛應用于科研領域。開發應用程序。Microtrac MRB為這兩種測量技術提供了強大的分析系統。我們很樂意告訴你哪種方法你的要求。

附件和選項

為CAMSIZER M1提供廣泛的配件，為您提供成功的顆粒分析所需的一切。四種不同的樣品夾可快速方便地插入樣品臺，保證高度的靈活性。

8個標準物體板支架，76 x 28毫米
4個物體板支架，76 x 52毫米
玻璃板，147毫米x313毫米
圓形濾芯支架

除了2.5倍、5倍、10倍、20倍、50倍的放大率標準鏡頭外，還可以多使用一個鏡頭，例如1.25倍或100倍。

大工作距離的光學保證了可靠的結果 Camsizer M1的樣品夾 M-Jet制樣直觀的軟件，包括Particle X-Plorer

技術參數

測量原理	靜態圖像分析 (ISO 13322-1)
測量范圍	0.5 µm - 1500 µm
分析類型	干法和濕法分析
測量時間	~ 5 — 60分鐘（取決于樣品類型和測量數據）
分辨率	18.1 M像素彩色攝像頭
數字分辨率	35 nm
可用物鏡	標準: 2.5x 5x 10x 20x 50x 可選: 1.25x or 100x
重量 (測量單元)	~ 45 kg
操作單元	PC，包括Windows 10操作系統、2臺顯示器、鍵盤、鼠標、評估軟件

作用原理

CAMSIZER M1使用靜態圖像分析原理，在0.5µm到1500µm的測量范圍內確定顆粒大小和顆粒形狀。帶有樣本材料的物體滑塊沿著每一步獲取一幅圖像的攝像系統逐步移動。樣品可以是干的或濕的(粉末或懸浮液)。與動態圖像分析相比，在測量過程中樣品是平穩的;因此，粒子圖像具有良好的質量和豐富的細節。在每次測量開始時，顆粒大小/顆粒形狀分析儀CAMSIZER M1確定測量區域的焦平面，確保所選區域的所有顆粒圖像都是pin-sharp(傾斜補償)。所有圖像和測量數據都可以在分析過程中存儲，使用Particle X-Plorer模塊為后續數據評估提供多種可能性。當測量完成后，一個概覽圖像會給用戶一個關于粒子質量的好主意。擴展到超過一個測量域的粒子可以使用創新的拼接算法拼接在一起，因此可以評估它們的尺寸大于1500微米。

關鍵詞：顯微鏡金屬粉末顯示器