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傅立葉變換紅外光譜儀FTIR-4000 and FTIR-6000 Series -

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產品簡介

傅立葉變換紅外光譜儀FTIR-4000 and FTIR-6000 Series -

詳細介紹

　　FTIR傅立葉變換紅外分光光度計FT/IR-4000andFT/IR-6000Series

　　◆日本分光FTIR的概要
　　新型FT/IR-4000、6000系列、通過硬盤的化以及高靈敏度、高安定和測量程序的更新，達到了操作性的提高。FTIR通過硬件和軟件高水平融合大大消減了測量所需工夫和時間。
　　硬件采用以往產品中積累的24位A/D轉換器低噪音電氣系統的高靈敏度以及DSP技術的高準確度的移動鏡控制、通過角隅棱鏡可以提高安定性，在短時間內得到高品位的光譜。另外通過重組的測定程序進行即時數據處理功能、預掃描時可以設定的測量以及解析條件、可消減測量后的數據處理的工夫和時間。
　　◆多量程測量

　　（上圖為對應寬波數的金剛石ATR測量數據）
　　多量程測量（FT/IR-6000series)
　　自動BS交換組和自動窗切換組、或者自動接口閥組的結合、可在真空狀態下自動連續測量寬波數范圍。
　　◆FT/IR-4000系列的特征

　　●對應IQ附件
　　●大型樣品室
　　●免維護光學系統
　　●可以安裝高靈敏度檢測器
　　●標配自動驗證功能
　　◆FT/IR-6000系列的特征

　　●超高分辨率0.07cm-1
　　●信噪比55000：1（FT/IR-6800）
　　●快速掃描測量
　　●進掃描測量
　　●測量波數可擴展為25000cm-1～10cm－1
　　●可對應真空
　　◆重組軟件
　　▼概要
　　除了光譜測量、推薦測量、觀測圖比較、定量等多種測量功能以外、還有即時數據處理、縮放工具欄、縮略圖等新的功能、提供舒適的操作性。另外、可根據使用目的構建專用畫面。
　　▼即時數據處理
　　根據即時數據處理、可設定的數據處理。

　　▼其他的特長
　　1、顯示測量信息、測量條件、數據處理的順序
　　2、確認光譜比較（定性）定量的結果
　　3、通過自我診斷、隨時檢查裝置的狀態
　　4、通過即時數據處理功能、確認測量中的數據處理結果、測量中可以和以前測量的數據疊加
　　5、通過縮略功能可以瞬時確認目標波峰以及官能基信息
　　6、測得的光譜登陸到縮略圖、通過鼠標操作光譜視圖可實現光譜的疊加
　　▼Sadtler的檢索以及部分結構解析支援程序

　　FT/IR-4000、6000系列配置了作為數據檢索軟件深受好評的Sadtlerd的KnowItAll.配置了與試劑及聚化物相關的一萬兩千張光譜圖的數據庫以及日本分光獨自的有機，無機，高分子大約400張光譜圖作為標配，程序安裝當天可以使用。另外，利用此程序，可將測得的光譜峰值與數據庫中登錄官能團信息進行核對，迅速查出條件一致信息。
　　◆紅外顯微鏡
　　IRT-7200詳細信息

　　▼IRT-7200
　　紅外分析的成像測量對樣品的化學構造可視化分析是的。使用單素子檢測器的紅外顯微鏡和自動樣品臺組合也可以進行映射測量、但是缺點是構造的原因導致測量時間過長。IRT-7200搭載16通道的MCT型線性陣列檢測器、和高速樣品臺組合測量時間是過去的測量方法的1/100。
　　IRT-5200詳細信息

　　▼IRT-5200
　　紅外分光光度計是各個領域通用的分析裝置。其中，在產品開發，品質管理以及生物制藥等領域微小區域的紅外分光分析是的方法，并且要求高性能，高功能化。IRT-5200是為了滿足這種需要而誕生的紅外顯微鏡。智能映射功能的手動樣品臺也可以測量映射。
　　IRT-1000詳細信息

　　▼IrtronμIRT-1000
　　Irtronμ是微型樣品取樣配件，是為了滿足微小，微量樣品的取樣而誕生的。紅外顯微鏡所必需的功能都濃縮到小巧的機箱中、實現小型、輕量、低價。因為是安裝在FTIR主機的樣品室內、所以和其他的配件一樣比較容易安裝和拆卸。
　　◆FTIR用配件

　　一次反射ATR
　　ATRPROONE
　　▼ATR（全反射吸収測量）
　　光從折射率的大的物質(棱鏡)到小的物質(樣品)時，如果入射角比臨界角大就會發生全反射。讓樣品緊貼棱鏡的表面若干滲入試料表面表層部的話，就會被吸收發生全反射。利用這個全反射光可得到表層部的吸收光譜。
　　ATRPROONE使用微小的棱鏡，粘接性好，并且因為與樣品的接觸面積小所以甚至能測量比較小的樣品以及表面粗糙樣品。棱鏡的種類有三種，ZnSe，Ge，鉆石，鉆石的棱鏡有兩種，一種為表面涂反射防止膜的高通量類型和沒有涂膜的可測量到30cm-1的類型。

　　▼高靈敏度反射測量裝置金屬面和入射面平行的偏光成分的光入射時，入射光和反射光的電矢量產生干涉并增強，在金屬表面形成垂直的定波。定波和金屬表面薄膜的相互作用吸光，和透過法相比靈敏度增大1位數到2位數。

▼漫反射測量裝置
　　光照在粉末樣品上，光的一部分在粒子表面產生正反射，其他的光進入樣品內部，在粒子里重復透過，反射，散亂后射出。測量這種擴散反射光的方法成為漫反射法。
　　◆規格
　　▼FT/IR-4600/4700

型號名稱	4600	4700
測量波數范圍	7800～350cm^-1
測量波數擴張范圍^*1	15000～2200cm^-1、5000～220cm^-1
分辨率	0.7cm^-1	0.4cm^-1
S N 比	25000:1	35000:1
檢測器（選項）	DLATGS（帶溫控） (MCT-N、MCT-M、MCT-W、Si光電二極管、InSb、InGaAs)
分光器（選項）	Ge/KBr (Si/CaF₂、Ge/CsI)
光源（選項）	高光譜線陶瓷光源 (鹵素燈)
干渉儀	45゜入射麥克爾遜干涉儀角隅棱鏡、自動校準機構、DSP控制密閉型
吹掃	干渉儀、樣品室、檢測器部對應
快速掃描	選項0Hz、16cm^-1)
主機	尺寸60（W）×645（D）×290（H）mm（主機）重量33kg（主機）

　　▼FT/IR-6600/6700/6800
　　

型號名稱	6600	6700	6800
測定波數範囲	7800～350cm^-1
測量波數擴張范圍	25000～10cm^-1
分辨率	0.4cm^-1	0.25cm^-1	0.07cm^-1
S N 比	45000:1	47000:1	55000:1
檢測器（選項）	DLATGS（帶溫調） MCT-N、MCT-M、MCT-W、Si光電二極管、InSb、InGaAs DLATGS（PE窗）、Si輻射熱測量計
分光器（選項）	Ge/KBr (寬帶域Quartz、Si/CaF₂、寬帶域KBr、Ge/CsI 麥拉（5、12、25、50μm、寬帶域型）(選項：自動BS交換組)
光源（選項）	高光譜線陶瓷光源鹵素燈、水冷式高圧水銀光源
干渉儀	28゜入射麥克爾遜干涉儀使用角隅棱鏡、自動校準機構、DSP控制密閉型
對應真空密閉	選項
吹掃	干渉儀、樣品室、檢測器部對應
快速掃描	選項（20Hz、16cm^-1)		標準（20Hz、16cm^-1)
步進掃描	選項
主機	尺寸：600（W）×670（D）×315（H）mm（主機）重量：約56kg（主機）