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北京北分瑞利分析儀器(集團)有限責任公司
?光學系統采用艾伯特垂直對稱形式裝置,慧差及象散可矯正到理想程度,在較長譜面范圍內譜線清晰,結構均勻。
WP1一米平面光柵攝譜儀
性能特點
?光學系統采用艾伯特垂直對稱形式裝置,慧差及象散可矯正到理想程度,在較長譜面范圍內譜線清晰,結構均勻。
?儀器采用三透鏡消色差照明方法,狹縫得到均勻照明,使同一條譜線黑度均勻。
?儀器縫前的哈特曼光欄盤上設置哈特曼及三階,九階減光板。
?使用控制箱控制攝譜過程。
?儀器配備直流電弧,交流電弧光源,以適應不同分析任務的需要。
?儀器配置工作臺,安裝和操作方便。
應用領域
WP1型平面光柵攝譜儀是在200nm-800nm波段范圍內作發射光譜分析的儀器。廣泛地應用于地質、冶金、機械、石油化工等部門作光譜定量和定性分析。
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