一、功能：
1、采用X射線熒光光譜法：無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
3、可測量厚度范圍：Ti鈦—U鈾
4、鍍層層數：多至5層。
5、測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。
6、測量時間：通常60秒-180秒。
7、樣品尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。
8、測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
9、可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
10、同時定量測量8個元素。
11、定性鑒定材料達20個元素。
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