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北京航天偉創設備科技有限公司
LDJD系列介電常數測試儀是利用高頻Q表法在較高的頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感的電感量和分布電容值、電工絕緣材料的高頻介質損耗、高頻回路有效并聯及串聯電阻以及傳輸線的特性阻抗等。
LDJD系列介電常數測試儀
LDJD系列介電常數測試儀是利用高頻Q表法在較高的頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感的電感量和分布電容值、電工絕緣材料的高頻介質損耗、高頻回路有效并聯及串聯電阻以及傳輸線的特性阻抗等。
型號 | 高頻Q表 | 介質損耗測試夾具 | 電桿組 | 液體杯 |
---|---|---|---|---|
LDJD-A | QBG-3E改進型 (10KHz-70MHz) | S916 | LKI-1 | 選配 |
LDJD-B | QBG-3F改進型 (10KHz-110MHz) | S916 | LKI-1 | 選配 |
LDJD-C | AS2853A改進型 (100KHz-160MHz) | S916 | LKI-1 | 選配 |
GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法》(等效IEC 60250:1969)
GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法》
ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》
適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結果與某些物理條件有關,例如頻率、溫度、濕度,在特殊情況下也與電場強度有關。
介電常數εr
電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時,其電容Cx與同樣電極構形的真空電容C0之比:
…………(1)
式中:
εr——相對電容率;
Cx——充有絕緣材料時電容器的電極電容;
C0——真空中電容器的電極電容。
在標準大氣壓下,不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率εr等于1.00053。因此,用這種電極構形在空氣中的電容Ca來代替C0測量相對電容率εr時,也有足夠的精確度。
在一個測量系統中,絕緣材料的電容率是在該系統中絕緣材料的相對電容率εr與真空電氣常數ε0的乘積。
在SI制中,電容率用法/米(F/m )表示。而且,在SI單位中,電氣常數ε0為:
…………(2)
用皮法和厘米來計算電容,真空電氣常數為:
…………(3)
介質損耗角 δ
由絕緣材料作為介質的電容器上所施加的電壓與由此而產生的電流之間的相位差的余角。
介質損耗因數 tanδ:損耗角δ的正切。
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