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跌落測(cè)試

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產(chǎn)品簡介

跌落測(cè)試----跌落測(cè)試通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的跌落，檢驗(yàn)產(chǎn)品抗意外沖擊的能力

詳細(xì)介紹

跌落測(cè)試 ----

跌落測(cè)試通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產(chǎn)品在搬運(yùn)期間可能受到的跌落，檢驗(yàn)產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度是根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測(cè)試規(guī)范來決定）。

跌落測(cè)試根據(jù)檢驗(yàn)的目的及樣品的類型不同，可以分為自由跌落、定向跌落、微跌落、零跌落。對(duì)于不同國際規(guī)范，即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī), MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī)）則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。