儀器簡介：
納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView所具備的單一顆粒跟蹤技術，結合經典微電泳技術和布朗運動成為現代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實，更加直觀人性化。通過子體積的掃描，來自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外，顆粒濃度也可以通過視頻計數分析得到。
納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView的特點 - 全自動和無源穩定性
自動校準程序會持續工作，即便是樣品池被取出后。防震動設計提高了視頻圖像的穩定性。通過掃描多個子體積并進行平均，就可以得到可靠的統計結果。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。
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自動掃描，多可達100個子體積；
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自動聚焦；
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小巧，便于攜帶；
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防震動；
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光源從紫外線到紅光；
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插入式樣品池；
理論
平移擴散常數可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率，可以得到zeta電位。
納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態光散射（DLS）
所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術，都存在一個問題：當顆粒大小低于100nm時，靈敏度會迅速的降低。動態光散射技術的低檢測限是0.5nm，對于納米顆粒跟蹤分析，其低檢測限是10nm。通常，DLS和NTA的主要區別就在于濃度范圍。對于DLS，當樣品濃度太低時，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務。相反，對于高濃度的樣品，DLS方法會非常的適合。
測量范圍
測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品，顆粒跟蹤技術的檢測下限為10nm；相應的，如果樣品的散射能力較弱，則檢測下限會變得更大。假如樣品穩定，不會沉淀或漂浮，zeta電位測量的粒徑上限為50微米，對于粒徑測量為3微米。
源于視頻分析的顆粒計數
顆粒濃度可通過視頻分析得到，并歸一化處理，散射體積對粒徑?？蓹z測的小濃度為105粒子/cm3，大為1010粒子/cm3。對于200nm的顆粒，大體積濃度為1000ppm。
準確度和精度
Zeta電位：準確度5mv，精度4mv，重現性5mv；
粒度測試（對于100納米的標準乳膠顆粒）：準確度6nm，精度4nm，重現性4nm；
濃度測試（100納米的顆粒，濃度10Mio粒子/ml）：準確度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml，重現性1Mio/ml；
只要相機設置正確，樣品處理適當，則以上所有的數據均有效。
方法
Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。
技術參數
