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日本vista光學檢漏儀SLD-100
日本vista光學檢漏儀SLD-100
光學檢漏儀
可以使用各種搜索氣體！
?不需要昂貴且
可能耗盡的氦氣?縮短和簡化了檢查時間?
不需要高級技能
?準確定量泄漏量
特長：
無需昂貴的，可能會耗盡的氦氣
?可以使用氬氣或大氣（氮氣）進行泄漏測試
檢查時間可以縮短和簡化
?可以從低真空區域（約50 Pa）進行測試
?氣體快速逸出，可以縮短檢查周期
?搜索氣體的改變是一觸式
⇒使用大氣氮氣檢查泄漏和總泄漏量后，
氬氣可以通過切換到模式來確定泄漏位置。
無需高級技能
-由于沒有吸收或滲透到彈性體中，因此可以進行可靠的泄漏檢測。
可以準確定量泄漏量
?使用標準電導元件達到大氣壓空氣（氮氣）的泄漏標準?可以
將空氣校準值轉換為氬氣等
?與浸沒法相比，可以在更短的時間內進行可靠的定量。
當排出各種氣體時，每種氣體都會發出自己*的光。通過測量這些光的每個波長的光譜強度，可以測量各種氣體的分壓。從該分壓計算出每種氣體的泄漏量。
由于它可以測量光線，因此甚至可以很容易地測量低真空。
（右圖是各種氣體的發射顏色的示例。）
右圖是確認使用已知電導率的元件在大氣壓空氣下進行靈敏度校準后，使用氬氣測量泄漏量的精度的圖表。通過在大氣中校準一次，可以準確測量高達10-8 Pa·m3 / s的氣體，而與氮氣和氬氣等氣體類型無關。
| 物品 | 規格值 |
可檢測泄漏量 | 10 -2 至10 -8 Pa ? m 3 / s |
| 工作壓力 | 約50Pa |
搜索氣 | 氬氣，空氣（N 2）等 |
| 分析方法 | 光學的 |
| 標準校準器 | 標準電導元件 |
| 顯示/操作單元 | 手持式帶圖形顯示 |
?可以使用氬氣或大氣（氮氣）進行泄漏測試
檢查時間可以縮短和簡化
?可以從低真空區域（約50 Pa）進行測試
?氣體快速逸出，可以縮短檢查周期
?搜索氣體的改變是一觸式
⇒使用大氣氮氣檢查泄漏和總泄漏量后，
氬氣可以通過切換到模式來確定泄漏位置。
無需高級技能
-由于沒有吸收或滲透到彈性體中，因此可以進行可靠的泄漏檢測。
可以準確定量泄
當排出各種氣體時，每種氣體都會發出自己*的光。通過測量這些光的每個波長的光譜強度，可以測量各種氣體的分壓。從該分壓計算出每種氣體的泄漏量。
由于它可以測量光線，因此甚至可以很容易地測量低真空。
（右圖是各種氣體的發射顏色的示例。）
右圖是確認使用已知電導率的元件在大氣壓空氣下進行靈敏度校準后，使用氬氣測量泄漏量的精度的圖表。通過在大氣中校準一次，可以準確測量高達10-8 Pa·m3 / s的氣體，而與氮氣和氬氣等氣體類型無關。
| 物品 | 規格值 |
可檢測泄漏量 | 10 -2 至10 -8 Pa ? m 3 / s |
| 工作壓力 | 約50Pa |
搜索氣 | 氬氣，空氣（N 2）等 |
| 分析方法 | 光學的 |
| 標準校準器 | 標準電導元件 |
| 顯示/操作單元 | 手持式帶圖形顯示 |
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