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測量純錫層和合金錫層厚度設備
屏幕更大更亮，更容易看清，更易于
具有統計處理功能，可在屏幕上顯示數據。
與過去相比，當前的準確度已顯著提高。
對于多層薄膜，最多可設置 5 層的測量條件。
您可以檢查測量部分的表面處理方法。
最多可注冊 50 個測量通道。
鍍錫測量可分別對純錫層和合金錫層進行。
所使用的電解液類型根據薄膜和基材的組合自動顯示。
您可以計算單位面積的重量。
Ni-P / Br 等
推出大測量臺、Ag/Cu等定制產品。
錫/銅等
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