當前位置：深圳市秋山貿易有限公司>>技術文章>>膜厚計的種類及用途范圍
對使用金屬的工業產品，在表面進行涂飾和鍍金等處理。在表面處理層中，薄的話容易產生腐蝕，厚的話經濟損失會變大，而且厚度不一定的話會降低不美觀的商品價值。也就是說，在涂飾和鍍金方面正確管理厚度是很重要的，承擔這一點的測定器是膜厚計。
| 測量方式 | 電磁感應式 |
|---|---|
| 測量目標 | 磁性金屬上的非磁性涂層 |
| 測量范圍 | 0-1500μm或60.00密耳 |
| 測量精度 | 小于15μm：±0.3μm，15μm或以上：±2％ |
| 解析度 | 小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1.0μm |
| 符合標準 | JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376 |
| 統計功能 | 測量次數，平均值，標準偏差，最小值，程序段號 |
| 探測 | 單點接觸恒壓型（LEP-J） |
| 顯示方式 | 數字（LCD，最小顯示位數0.1μm） |
| 外部輸出 | RS-232C接口（傳輸速度2400bps） |
| 電源供應 | AC100V（50 / 60Hz）或電池1.5V（AA堿性）主機x 6，打印機x 4 |
| 尺寸/質量 | 120（W）x 250（D）x 55（H）毫米，1.0公斤 |
| 配件 | 標準板（10μm，50μm，100μm，350μm，800μm，1 mm，所有近似值，各1張），鐵底座，標準板盒，電池1.5 V（AA堿性），AC適配器，探針適配器，打印機紙，攜帶案件 |
| 選項 | L型探頭（LEP-21L），RS-232C連接電纜，數據管理軟件“ Data Logger KLD-01”，“ McWAVE Lite”，“ McWAVE Standard”，“ McWAVE Professional”，“ MultiProp” |
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