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深圳市捷啟電子有限公司
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WPA-200L系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術開發的產品，測量技術，使其成為*的光學測量產品。 該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。求購二手WPA-200L薄膜相位差測試儀
產品介紹
WPA-200L系列可測量相位差高達3500nm，適合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其的光子晶體制造技術開發的產品，測量技術，使其成為*的光學測量產品。 該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。WPA-200型更是市場上的行業標準檢測機器，適合用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。
應力雙折射測量系統WPA-200L主要特點:
操作簡單，測量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤCamera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
市場覆蓋率較高的殘余應力測量設備。
主要應用：
·光學零件（鏡片、薄膜、導光板）
·透明成型品（車載透明零件、食用品容器）
·透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
·透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）
·有機材料（球晶、FishEve）
技術參數：
項次 | 項目 | 具體參數 |
1 | 輸出項目 | 相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】 |
2 | 測量波長 | 520nm、543nm、575nm |
3 | 雙折射測量范圍 | 0-3500nm |
4 | 測量小分辨率 | 0.001nm |
5 | 測量重復精度 | <1nm（西格瑪） |
6 | 視野尺寸 | 218x290mm-360×480mm（標準） |
7 | 選配鏡頭視野 | 無選配 |
8 | 選配功能 | 實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制，CD模式 |
求購二手WPA-200L薄膜相位差測試儀新舊不限
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