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深圳市捷啟電子有限公司
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| 測量范圍 | 0-2000Mpa | 產品種類 | 在線 |
|---|---|---|---|
| 數顯功能 | 有 | 測量精度 | um CS±20MPa,DOL ±1um |
| 測量準確度 | ±2% | 產地 | 進口 |
| 溫控功能 | 無 | 鈉離子應力值 | SLP-2000 |
微晶玻璃應力儀、無損結晶玻璃內應力測試儀器SLP-2000是檢測微晶玻璃應力測定技術中為數不多的無損檢測法之一，是根據微晶材料或玻璃制品晶面間距的變化測定應力的，今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的化學強化玻璃應力分析和檢測方法之一，被廣泛的應用于科學研究和工業生產的各領域。 SLP-2000微晶玻璃應力儀,該機器現由日本折原株式會社研究所研發改進并制造，最初使用該機器的有伯恩光學、APPLE集
SLP-2000散亂光應力儀工作原理
散亂光彈性法是利用通過玻璃內部應力的雙折射來改變極化激光束的延遲，并且散亂光的強度隨著激光束的延遲的變化而改變，通過偏振光光路上因激光束的延遲而出現的光程差和偏振特性來計算表面壓應力和壓應力層厚度。對散亂光彈性法測量化學鋼化玻璃的表面應力的理論依據、測量技術等進行了介紹。
在智能手機、平板電腦等電子產品領域，化學鋼化超薄玻璃的需求不斷增加，而玻璃是易碎材料，要提高或保持強度和抗破碎能力，正確認識應力分布。如何有效的測量化學鋼化玻璃的表面壓應力(CS)和壓應力層厚度(DOL)，是當下一個迫切需要解決的問題。
3.2 若表面附近有鉀離子層，可以與表面應力計FSM-6000的數據進行相結合來分析斷面的應力分布。
3.3 應力測量范圍：0-2000MPa
3.4 應力測量精度：從表面起深度50um以上 ±2MPa（標準片為基準）
3.5 應力層深度測量范圍：10-600um
3.6 應力層深度測量精度：±2um（標準片為基準）
3.7 光源：LD 520±10nm 30mw Class 3B
3.8 測量對象：化學強化玻璃、2段強化玻璃、物理強化玻璃
3.9 測量形狀：平面-1000R 10 x 10mm以上
3.10 三棱鏡折射率：1.518@518nm
3.11 PC：專用（OS、測量軟件安裝完成）
3.12 OS：Windows10
3.13 尺寸：W320*D280*H220mm（本體）
3.14 重量：16kg（本體）
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