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Hatachi日立S-3700N多功能分析型可變壓掃描電子顯微鏡

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更新時間：2022-08-22 15:38:48瀏覽次數：453次

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產品簡介

S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡● Z大可載樣品直徑達300mm● Z大觀察區域直徑達203mm● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析● 樣品室設置多種接口，可安裝EDS、WDS、EBSD和CL等多種分析用附件● 5軸優中心馬達臺可以傾斜--20~+90 ● 采用節能，清潔的渦輪分子泵

詳細介紹

S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電子顯微鏡

產品介紹：

S-3700N 多功能分析型可變壓掃描電鏡

研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡

● zui大可載樣品直徑達300mm
● zui大觀察區域直徑達203mm
● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析
● 樣品室設置多種接口，可安裝EDS、WDS、EBSD和CL等多種分析用附件
● 5軸優中心馬達臺可以傾斜--20°~+90°
● 采用節能，清潔的渦輪分子泵

S-3700N技術參數

分辨率	SE 3.0nm，30KV(高真空模式) 10nm， 3KV(高真空模式) BSE 4.0nm，30KV（低真空模式）
放大倍率	x5~x300，000
加速電壓	0.3~30KV
低真空范圍	6~270Pa
圖像電位移	±50μm （工作距離 10mm）
zui大裝載樣品	直徑300mm

樣品臺

X	150mm
Y	110mm
Z	5~65mm
R	360°
T	-20°~90°
觀測區域	203mm直徑
樣品zui大高	110mm（工作距離10mm）
樣品臺類型	優中心馬達臺

電子光學系統

燈絲	預對中燈絲
物鏡光闌	4孔活動光闌4孔活動光闌
槍偏壓	固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏壓
探測器	二次電子探頭 5分割半導體式被散射探頭
分析位置	工作距離10mm，取出角35°

顯示控制系統

控制模式	鍵盤鼠標、操縱桿、旋鈕板
顯示器	液晶顯示器
輔助功能	3D動畫演示功能電鏡操作導航功能樣品操作導航功能傾斜補償功能
存儲圖像精度	640 x 480 , 1280 x 960 2560 x 1920 , 5120 x 3840
圖片格式	BMP, TIFF, JPEG
圖像顯示模式	全屏模式：1280 x 960 標準模式：640 x 480 分割模式：640 x 480 點 x 2 信號混合模式