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CRDR性能檢測模體工具箱

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CR/DR性能檢測模體

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產(chǎn)品簡介

CRDR性能檢測模體工具箱*符合JJG 1078-2012科研數(shù)字?jǐn)z影（CR、DR）系統(tǒng)X射線輻射源檢定規(guī)程的要求。

詳細(xì)介紹

供應(yīng)CRDR性能檢測模體工具箱
包含：CRDR性能檢測模體（可選），低對比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測模體（可選），低對比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測模體（可選），低對比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測模體（可選），低對比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測模體（可選），低對比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。

關(guān)鍵詞：密度計(jì)

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