當前位置：北京錦正茂科技有限公司>>探針臺測試系統>> JZM-100H錦正茂實驗室設備氣氛型高溫探針臺測試系統
氣氛型高溫探針臺
JZM-63H JZM-100H
功能描述：
錦正茂實驗室設備氣氛型高溫探針臺測試系統
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快速實現室溫-200℃環境的控溫，可在真空環境下對樣品進行光學，電學測試，測試中也可實現惰性氣體的快速充放。根據樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測試方式。
快速實現室溫-200℃環境的控溫，可在真空環境下對樣品進行光學，電學測試，測試中也可實現惰性氣體的快速充放。根據樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測試方式。
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氣氛型高溫腔參數：
①溫度范圍：室溫-200℃；
②標準鉑電阻溫度計；
③控溫精度：±0.1k；
④真空度：10E-3Pa；
⑤提供真空抽口*1、氣體入口*1、氣體出口*1、真空釋放口*1；
⑥匹配觀察窗，插拔樣品卡，探針卡，鱷魚夾。
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功能描述：
錦正茂實驗室設備氣氛型高溫探針臺測試系統
快速實現室溫-200℃環境的控溫，可在真空環境下對樣品進行光學，電學測試，測試中也可實現惰性氣體的快速充放。根據樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測試方式。
快速實現室溫-200℃環境的控溫，可在真空環境下對樣品進行光學，電學測試，測試中也可實現惰性氣體的快速充放。根據樣品材料，形狀不同可選擇探針，插拔等多種安裝測試方式。
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氣氛型高溫腔參數：
①溫度范圍：室溫-200℃；
②標準鉑電阻溫度計；
③控溫精度：±0.1k；
④真空度：10E-3Pa；
⑤提供真空抽口*1、氣體入口*1、氣體出口*1、真空釋放口*1；
⑥匹配觀察窗，插拔樣品卡，探針卡，鱷魚夾。
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