當前位置:北京錦正茂科技有限公司>>探針臺測試系統>> T8-500-3,T8-300-3錦正茂三維磁場探針臺實驗室半導體測量
t 各類DC探針、高頻探針、主動式探針、電纜線
t CCD或C-MOS視頻成像裝裝置
t Chuck運動裝置
t 電磁鐵系統/超導磁鐵系統
t 1Mpa正壓系統升級
t 超高溫升級選件
t 超高真空升級選件
t 各類探針夾具
t 屏蔽箱
t 防振桌
t 轉接頭
t 真空泵
技術指標:
三維磁場探針臺 | |||
型號 | T8-500-3 | T8-300-3 | T8-100-3 |
材質 | 所選材料均為無磁材質 | ||
磁場范圍 | 500Gs | 300Gs | 100GS |
線圈材質 | 耐高溫漆包線 | ||
磁場均勻性 | 中心區50毫米球體內1% | ||
電源穩定性 | 三臺高精度直流電源 50ppm可選10ppm | ||
磁場分辨率 | 0.05 mT | ||
角度分辨率 | 0.02° | ||
樣品固定方式 | 吸盤或者壓片 | ||
樣品臺直徑 | 50mm可定制 | ||
顯微鏡 | X、Y平面2*2inch,精度1μm,Z軸行程≥50.8mm,可選加載激光 | ||
放大倍數 | 16~100X/20~4000X | ||
探針臂數量 | 2、4可選 | ||
探針臂行程 | 25mm-25mm-12mm可更換 | ||
探針臂移動精度 | 10μm /2μm/1μm/0.7μm可選 | ||
探針長度 | 38mm | ||
探針直徑 | 0.51mm | ||
針尖直徑 | 10μm/5μm/1μm | ||
探針材料 | 鎢/鈹銅/GGB | ||
漏電精度 | 100fA | ||
顯微鏡 | X、Y平面2*2inch,精度1μm,Z軸行程≥50.8mm,可選加載激光 |
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