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ICT治具測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)PCB板上的探針點(diǎn)預(yù)留

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參考價(jià): ￥ 16

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產(chǎn)品型號(hào)Q518D

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更新時(shí)間：2020-10-14 10:44:27瀏覽次數(shù)：274次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

測(cè)量范圍	0.05Ω-100MΩ	測(cè)量精度	100
外形尺寸	1000mmx750mm×1600mmmm	用途	短路開(kāi)路焊點(diǎn)連點(diǎn)的測(cè)試
重量	45kg

ICT治具測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)PCB板上的探針點(diǎn)預(yù)留
1.定位孔采用非金屬化的定位孔，誤差小于0.05mm。定位孔周圍3mm不能有元件。
2.測(cè)試點(diǎn)直徑不小于0.8mm，測(cè)試點(diǎn)之間的間距不小于1.27mm,測(cè)試點(diǎn)離元件不小于1.27mm，否則錫會(huì)流入到測(cè)試點(diǎn)上。
3.如果在測(cè)試面放置高度超過(guò)4mm的元器件，旁邊的測(cè)試點(diǎn)應(yīng)避開(kāi)，距離4mm以上，否則測(cè)試治具不能植針。

詳細(xì)介紹

ICT治具如何預(yù)留測(cè)試點(diǎn)

1.定位孔采用非金屬化的定位孔，誤差小于0.05mm。定位孔周圍3mm不能有元件。

2.測(cè)試點(diǎn)直徑不小于0.8mm，測(cè)試點(diǎn)之間的間距不小于1.27mm,測(cè)試點(diǎn)離元件不小于1.27mm，否則錫會(huì)流入到測(cè)試點(diǎn)上。

3.如果在測(cè)試面放置高度超過(guò)4mm的元器件，旁邊的測(cè)試點(diǎn)應(yīng)避開(kāi)，距離4mm以上，否則測(cè)試治具不能植針。

4.每個(gè)電氣節(jié)點(diǎn)都必須有一個(gè)測(cè)試點(diǎn)，每個(gè)IC必須有POWER及GROUND的測(cè)試點(diǎn)，且盡可能接近此元器件，距離IC 2.5mm范圍內(nèi) 。
   5.測(cè)試點(diǎn)不可被阻焊或文字油墨覆蓋，否則將會(huì)縮小測(cè)試點(diǎn)的接觸面積，降低測(cè)試的可靠性。
    6.測(cè)試點(diǎn)不能被插件或大元件所覆蓋、擋住。
    7.不可使用過(guò)孔或DIP元件焊點(diǎn)做測(cè)試點(diǎn)。