Fritsch公司的A 22 Nano Tec ---- 納米型激光粒度儀，采用聚焦激光散射的原理進行樣品顆粒度的檢測。可同時進行干法和濕法測量，520個測量通道可保證在整個測量范圍內的測量，檢測下限可達10nm，在同類產品中都處于地位。

NanoTec（納米型激光粒度儀）和MicroTec（微米型激光粒度儀）兩款機型是世界上能在測量顆粒粒徑分布同時，又能辨別顆粒粗略形狀的激光粒度儀，可讀出D50顆粒的3D效果圖。機器內置了測試儀器監測系統，通過了ISO 9001:2000及ISO 13320-1標準鑒定，檢測是具有很高的性。

技術參數：

1. 測量范圍：干法：0.1 - 2000 µm
濕法：0.01- 2000 µm
2. 測量通道：520個
3. 光源：波長655 nm
功率：7 mW
4. 測量時間：10 s
5. 測量結果的重現性：d50≤2％
6. 測量的度偏差：d50≤3％
7 .濕法分析樣品回路體積：500 ml
干法分析：8m3/h氣流量
樣品5 – 50 cm3

主要特點：

——具有的量程范圍
——具有的分辨率 


1. 采用“反傅里葉設計”的聚焦激光光束完成測量過程，這是德國Fritsch公司的。

2. 兩束激光光速進行自動校準。

3. 可快速、自動進行各種顆粒狀，懸浮狀，乳液狀等樣品的顆粒尺寸分析。

4. 液體和固體的分散池組合在同一個機器中，干法樣品和濕法樣品分析可進行自動轉換。

5. 520個測量通道，在同類產品中個數多。

6. 檢測下限為10nm，在同類產品中檢測下限。

7. 同一個測量過程中，在探測顆粒粒徑分布的同時還可對顆粒的形狀進行辨認。