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X射線鍍層測厚儀

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產品型號M1 ORA

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更新時間：2021-11-05 15:48:19瀏覽次數：138次

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產品簡介

產品描述：M1 ORA是適用于珠寶行業的臺式微區X射線熒光光譜儀（μ-XRF）

詳細介紹

M1 ORA是適用于珠寶行業的臺式X射線鍍層測厚儀，結構緊湊、占用空間小。

M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成，分析元素范圍：原子序數22號（鈦）以上的元素。
上照式光管，光板尺寸小至0.3mm，可以對復雜式樣的樣品進行非接觸、非破壞性的分析，數分鐘內就可以得到結果。

樣品尺寸大可達100×100×100mm，無需處理，直接放在樣品臺上檢測，采用光學顯微鏡進行準確定位。

采用大感應面積的正比計數器接收樣品發出的熒光信號。采集的信號越多，分析結果越準確。可以檢測含量在0.5%的元素

基于標樣模型或無標樣模型，可以鑒別和定量分析樣品中的元素。準確度高，達到0.2wt%對于沒有預想到的元素也能夠進行分析。

珠寶、黃金、貴金屬分析

X射線熒光光譜儀是非基礎和非破壞性分析，同時能夠得到高準確度測試結果的分析方法

由于珠寶首飾件通常都非常的小，又有些是采用不同貴金屬組合，X射線熒光光譜儀分析過程能采用儀器內的準直器將激發的X射線集中于一小點。

行業應用：

X射線熒光光譜儀測量可廣泛適用于大量的黃金合金系列，可測量材料包括金、銀、銅、鈀、鉑、銠等貴金屬元素

黃金成分范圍35%（8克拉/K）~（24克拉/K）

適用于：白金、黃金、鉑合金、銀合金，分析精度優于0.2%

關鍵詞：鍍層測厚儀光學顯微鏡貴金屬熒光光譜儀光譜儀

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