- 產(chǎn)品詳細(xì)
-
1. 應(yīng)用范圍:
EXPLORER可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識別和相定量,可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計算。也可以定量分析殘留奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向和納米粒子分析。
2.概 述
EXPLORER采用模塊化設(shè)計,全部組件可以進(jìn)行拆分為7個模塊,同時可以在5個獨(dú)立自由度上檢測樣品。同時EXPLORER可以提供多種配置,如范圍更寬的X射線源、光路、樣品臺和檢測器等,可以滿足各種應(yīng)用需求。此外將直接傳動轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)勢的光學(xué)編碼器相結(jié)合,確保了儀器的傳動速度和精度,可以勝任各類樣品的定性和定量分析。
3. 技術(shù)規(guī)格
3.1 X射線發(fā)生器
3.11 輸出功率: 3 KW(可選配4 kW)
3.12 輸出穩(wěn)定性: < 0.01 % ( 10%電壓波動)
3.13 輸出電壓: 60kv
3.14 輸出電流 : 60A(可選配80A)
3.16 電壓步寬: 0.1kV
3.17 電流步寬: 0.1mA
3.18 輸入電壓: 230 Vac(±10%), 50/60 Hz, 單相
3.2 X射線管
3.21 類型:石英(可選陶瓷),銅靶(可選擇任何X射線管),
3.22 焦點(diǎn):細(xì)焦點(diǎn)0.4 x 8 mm (可0.4 x12 mm 長細(xì)焦點(diǎn);1 x 10 mm 標(biāo)準(zhǔn)焦點(diǎn);2 x 12 mm長寬焦點(diǎn))
3.23 輸出功率:3.0KW
3.3 測角儀Kα
3.31 配置: 垂直或水平θ/2θ,θ/θ
3.32 檢測直徑: 400-500-600mm區(qū)間內(nèi)任意值
3.33 水平掃描角度范圍: - 110° < 2θ< + 168°(取決于所選附件)
3.34 測量角精度: ± 0.0001°
3.35 最小選擇步數(shù): 0.0001°
3.36 操作模式: 連續(xù)掃描、步進(jìn)掃描、θ/2θ掃描、快速掃描、θ軸向震動
3.37 可變發(fā)散狹縫: 4°、2°、 1°、 1/2°、1/4°
3.38 可變防散射狹縫: 4°、2°、 1°、 1/2°、1/4°
3.39 索拉狹縫: 2°
3.4 檢測器
3.41 類型: *閃爍計數(shù)器,(可選YAP (Ce),拋光硅CCD檢測器)
3.42 計數(shù)方式: 2 x 106 cps (Nal),
3.5 控制軟件
3.51 數(shù)據(jù)采集程序
GNR提供了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)采集程序,可以適用于標(biāo)準(zhǔn)配,同時適用于自定義配置。
軟件可以應(yīng)用在粉末、高分辨率衍射儀、殘留馬氏體、應(yīng)力(平面和三軸)和薄膜分析。程序可以控制X射線發(fā)生器、準(zhǔn)直器、多用途樣品臺、閃耀計數(shù)器、陣列檢測器、固態(tài)檢測器、高低溫度和其他器件。
3.52 SAX
可以進(jìn)行單峰分析、峰值處理、背景差減,平滑,反褶積和峰值定位。結(jié)構(gòu)分析,晶體尺寸,晶格應(yīng)變,反射的定性和定量分析。