正置顯微鏡分析從極小的MEMS 傳感器到超大 XXL 晶圓，或甚至整塊平板顯微器，其間不會對樣品造成破壞。借助 300 mm 的橫向移動距離和254 mm 的垂直深度，您可以在 Axio Imager Vario 下檢測大量樣品。一體化機柱設計確保了穩定性。在超凈室內檢測晶圓的應用中 – Axio Imager Vario 已通過 DIN EN ISO 14644-1 標準認證，并滿足潔超凈室等級 5 的要求。利用驅動 Z 軸的電動馬達與自動聚焦硬件確保自動調整至更佳聚焦位置。

 正置顯微鏡特點：

• 兩種手動和一種電動機柱（配有符合工業標準的三個模式控制按鈕）可供選擇，充分利用顯微鏡300 mm 橫向與縱向移動距離254 mm 垂直深度的優勢。

• Axio ImagerVario 能通過物鏡轉盤的上下移動來聚焦樣品。這就意味著，即便是較重的樣品，也可以獲得高準確聚焦精度和可重復性。

• 借助自動聚焦硬件，您可以準確快速地聚焦低對比度的反射樣品。

• Axio ImagerVario 與 LSM 700 組合應用，以高分辨率無接觸地分析敏感樣品。

• Axio ImagerVario 已通過 DIN EN ISO14644-1 標準認證，并滿足潔超凈室等級 5 的要求

?超凈室：

半導體制造與晶圓檢測需要在超凈室內完成。根據 DIN EN ISO 14644-1 標準，以每立方米的顆粒數量和大小將其劃分成不同等級。在超凈室應用中，Axio Imager Vario 已通過此標準認證，并滿足超凈室等級 5 的要求。超凈室 ISO 5 等級相當于原 FED STD 209E（1992）標準的 100 級。超凈室套件中包含一個 7 孔物鏡轉盤、一個顆粒保護罩及一個防噴嚏保護罩。