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詳細摘要： 倒置金相顯微鏡采用優質的遠光學系統，同時配備明暗場通用的長工作距離平場平場消色差物鏡，多光路的系統設計，可同時支持雙目鏡筒觀察和數碼攝像裝置觀察。

詳細摘要： 正置金相顯微鏡是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業需求而開發的，作為高級金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其強較性能.

詳細摘要： 菲希爾測厚儀其軟硬件均為珠寶黃金行業而設計。專注于重要的功能，在控制成本的同時仍只采用廣受認可、高質量的組件。

詳細摘要： FMP100系列便攜式測厚儀通過磁感應法和電渦流法進行鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層測量；

詳細摘要： 手持式涂鍍層測厚儀高效的測量；充足的內存，可用于數千個應用，以及多種統計與顯示功能；

詳細摘要： MP0R 系列便攜式測厚儀能夠簡便、快速且無損地測量涂層厚度。配有兩個顯示屏、一個特別堅固的外殼和耐磨損的探頭，它們是可以直接用于現場可靠測量的理想設備。

詳細摘要： 便攜式測厚儀同樣采用久經考驗的WinFTM軟件。基于基本參數法的WinFTM軟件不僅能進行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實現無校準（不需標準片）測量。

詳細摘要： CMS2臺式測厚儀通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進行標準的STEP測試，以...

詳細摘要： MMS PC2臺式測厚儀堅固耐用且功能豐富的臺式儀器，可用作多功能測量系統，并可保存和處理測量數據

詳細摘要： XDL臺式測厚儀提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。

詳細摘要： 臺式測厚儀配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量較薄的鍍層

詳細摘要： 防腐材料壁厚測厚儀型號豐富，從入門級到高精度級。多種測量模式，包括A掃描和B掃描、回波-回波測量和聲速模式。

詳細摘要： 奧林巴斯探傷儀體積雖小，但卻有著許多通常只有更大的探傷儀才具有的功能。EPOCH LT探傷儀除了具有快速