用途:

LW200-4JT適用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研機(jī)構(gòu)作金相、巖相、礦相等材料表面組織結(jié)構(gòu)的薄片觀察檢測。也可用于電子工業(yè)部門作晶體，金屬陶瓷、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、芯片及新材料等方面的檢驗(yàn)與分析。

主要技術(shù)參數(shù)：

1．三目鏡筒：傾斜45 °可旋轉(zhuǎn)360 ° 瞳距55mm-75mm，視度±5° 輔助倍數(shù)1.25X

2．高眼點(diǎn)目鏡：PLAN10X/20mm

3．平場物鏡: 4X、10X、40X（S）、100X(S，oil)

4．總放大倍數(shù)：50X-1250X

5．雙層載物臺：尺寸160mm*140mm，

移動(dòng)范圍 75*50mm

6．聚焦鏡：可調(diào)式阿貝聚焦鏡NA1.25

孔鏡可變光欄和視場光闌 濾色片座

7．調(diào) 焦 ：同軸粗微動(dòng)調(diào)焦 升降范圍25mm

微動(dòng)格值0.002mm

8. 光 源：柯勒照明，正交偏振裝置，濾色片（綠、黃、磨砂），反射光可調(diào)鹵素?zé)?2V50W，

透射光可調(diào)鹵素?zé)?2V20W