納米傅里葉紅外光譜儀Nano-FTIR使得納米尺度化學(xué)鑒定和成像成為可能。這一技術(shù)綜合了原子力顯微鏡的高空間分辨率，和傅里葉紅外光譜的高化學(xué)敏感度，因此可以在納米尺度下實(shí)現(xiàn)對(duì)幾乎所有材料的化學(xué)分辨。現(xiàn)代化學(xué)分析的新時(shí)代從此開(kāi)始。

納米傅里葉紅外光譜儀Nano-FTIR

在不使用任何模型矯正的條件下，nano-FTIR獲得的近場(chǎng)吸收光譜所體現(xiàn)的分子***特征與使用傳統(tǒng)FTIR光譜儀獲得的分子***特征吻合度*（見(jiàn)圖2），這在基礎(chǔ)研究和實(shí)際應(yīng)用方面都具有重要意義，因?yàn)檠芯空呖梢詫ano-FTIR光譜與已經(jīng)廣泛建立的傳統(tǒng)FTIR光譜數(shù)據(jù)庫(kù)中的數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比，從而實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的進(jìn)行納米尺度下的材料化學(xué)分析。對(duì)化學(xué)成分的高敏感度與超高的空間分辨率的結(jié)合，使得nano-FTIR成為納米分析的*工具。

nano-FTIR 可以應(yīng)用到對(duì)納米尺度樣品污染物的化學(xué)鑒定上。圖3顯示的Si表面覆蓋PMMA薄膜的橫截面AFM成像圖，其中AFM相位圖顯示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一個(gè)100nm尺寸的污染物，但是其化學(xué)成分無(wú)法從該圖像中判斷。而使用nano-FTIR在污染物中心獲得的紅外光譜清晰的揭示出了污染物的化學(xué)成分。通過(guò)對(duì)nano-FTIR獲得的吸收譜線與標(biāo)準(zhǔn)FTIR數(shù)據(jù)庫(kù)中譜線進(jìn)行比對(duì)，可以確定污染物為PDMS顆粒。