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薄膜測厚儀 詳細摘要: 薄膜測厚儀適用于介質,半導體,薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該測厚儀,是我公司與美國new-span公司*的薄膜測厚技術,基于白光干涉的原理來測定薄膜...
產品型號:SGC-10 所在地:南京市 更新時間:2022-08-22 參考價:¥ 4440 在線留言 -
自動橢圓偏振測厚儀 詳細摘要: 自動橢圓偏振測厚儀廣泛地應用在光學、材料、生物、醫學等各個領域。其中測量薄膜材料的厚度、折射率和消光系數是橢圓偏振法基本、重要的應用之一 。
產品型號:SGC-2 所在地:南京市 更新時間:2022-08-22 參考價:¥ 4044 在線留言