X熒光光譜儀系列放出的X射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內層電子。當外層電子補充內層電子時，會放射該原子所固有能量的X射線－特征X射線。根據受激后退激過程中所放出的特征X射線能量各不相同，依此進行定性分析；根據特征X射線強度大小，可進行定量分析。

X熒光光譜儀系列特點

探測器采用半導體探測器，能量分辨率優于149ev；
真空測量，大限度的提高測量元素的檢測限，有利于鹵素測量；
自動調整光管功率，對激發輕元素和中重元素都有良好的激發效果；
圓形品倉設計，適應于各種樣品的檢測，可以測量固體、液體、粉末；
開放式工作曲線標定平臺,可量身定做有害物質檢測和控制方案；
采用XRF分析軟件，融合了包括經驗系數法、基本參數法（FP法）、理論α系數法等多種經典分析方法，全面保證測試數據的準確性。
采用模式識別及數據庫技術，實現儀器分析智能化； 
配置濾光片裝置大幅提高峰背比； 
校正方式：采用歐盟RoHS 塑膠標樣校準數據；
可根據用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統計及格式要求。
可以在ROHS分析軟件上開展不銹鋼、合金、貴金屬及全元素分析。 
一體化設計，性能穩定，運行可靠，性價比高； 
適用于電子產品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）檢測；