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蘇州安而森試驗設備有限公司
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小型THB測試設備 THB測試設備評估功率半導體器件在高溫高濕，低溫低濕，低溫高濕條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程，同時可附帶評價功率半導體器件外觀的寢蝕。 ......
1.1 設備名稱：雙層式恒溫恒濕試驗箱
1.2 設備型號：ATH-X02152
1.3 內部尺寸： 300×400×250*2層(W×H×D)
1.4 外部尺寸： 1020*1680 *1200mm (W×H×D)
內向容積：30L×2層
1.5 溫度范圍：-20℃～+150℃
濕度范圍：10%～98%R.
滿足;滿足65℃@95%RH ,30℃@60%RH ,60℃@60%RH 條件
1.6 升溫速率：-20℃～+150℃：≥3℃/min（全程平均）
降溫速率：+150℃～-20℃：≥1℃/min（全程平均）
1.7 溫度波動度：≤±0.5℃
濕度波動度：≤±3%RH
1.8 溫度均勻度：≤2.0℃
濕度均勻度：≥75%RH時 均勻度≤±3%RH
≤75%RH時 均勻度≤±5%RH
1.9溫度偏差: ≤±2.0℃
1.10滿足標準：GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設備GB/T 5170.5-2008濕熱試驗設備
GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術條件》
GB/T 10589-2008《低溫濕熱試驗箱技術條件》
GB/T 10592-2008《高低溫試驗箱技術條件》
GB/T 2423.1-2008《電工電子產品環境試驗方法試驗A：低溫試驗方法》
GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環境試驗方法試驗B：高溫試驗方法》
GB/T 2423.3-2006《電工電子產品環境試驗方法恒定濕熱試驗方法》
GB/T 2423.4-2008《電工電子產品環境試驗方法交變濕熱試驗方法》
JJF 1101-2003 《境試驗設備溫度、濕度校準規范》
備注：1.以上性能指標指在無負荷、無試料，周圍環境溫度為25±2℃條件下測量的數據
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