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柜谷科技發展（上海）有限公司
主營產品： Brookfield質構儀,HAAKE擠出機,日立掃描電鏡 |
公司信息
日本理學多道同時分析型X射線熒光光譜儀
| 參考價 | 面議 |
具體成交價以合同協議為準
- 型號
- 品牌
- 廠商性質 代理商
- 所在地 上海市
日本理學多道同時分析型X射線熒光光譜儀技術參數：
1.zui大輸出功率3kW(可選4kW),電壓60kV,電流80mA
2.穩定性好 對外電路波動10%為0.005%
3.8樣品交換，可選20,50，100,樣品自動交換，進樣時間4秒
4.標準16通道，.zui多可選30或40通道，真空系統標準配備自動穩定系統APC,分快、慢兩檔
5.測角儀分固定道、重元素、輕元素
日本理學多道同時分析型X射線熒光光譜儀主要特點：
1.小型化、高性能、高速度、易操作，Be-U高靈敏度、高精度分析
2.可同時分析40種元素
3.采用固定道扣背景技術，可選配輕、重元素掃描測角儀
4.超高記數電路設計，雙真空抽速機構，真空度自動穩定系統
5.可使用基本參數法軟件，全中文多任務，多窗口軟件，操作便利
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