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柜谷科技發(fā)展(上海)有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: Brookfield質(zhì)構(gòu)儀,HAAKE擠出機(jī),日立掃描電鏡

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公司信息

聯(lián)人:
錢(qián)總
址:
上海市浦東新區(qū)曹路鎮(zhèn)金海路2588號(hào)B217室
編:
鋪:
http://www.kindlingtouch.com/st629844/
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HD-2700日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡
日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) HD-2700
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

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更新時(shí)間:2022-08-22 15:43:36瀏覽次數(shù):1266

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【簡(jiǎn)單介紹】
日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡
掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國(guó)CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開(kāi)發(fā)的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級(jí)納米技術(shù)研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時(shí),探針電流提高了10倍。

日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡產(chǎn)品簡(jiǎn)介

掃描透射顯微鏡HD-2700,配備了與德國(guó)CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開(kāi)發(fā)的球差校正儀,顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能,更適合高級(jí)納米技術(shù)研究。由于球差校正系統(tǒng)校正了限制電子顯微鏡的性能的球差,使其與標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)顯微鏡相比,分辨率提高了1.5倍,同時(shí),探針電流提高了10倍。

該顯微鏡還配備了高分辨率鏡頭和冷場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)M(jìn)一步提高了圖像分辨率和電子束能量分辨率。同時(shí),該型號(hào)系列還增加了一款不帶球差校正的主機(jī)配置,可以以后加配球差校正進(jìn)行升級(jí)。

日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡特點(diǎn)
 
高分辨率掃描透射電子顯微鏡成像
HAADF-STEM圖像0.136nm,F(xiàn)FT圖像0.105nm(高分辨率鏡頭(*))
HAADF-STEM圖像0.144nm(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)
明場(chǎng)掃描透射電子顯微鏡圖像0.204nm(w/o球差校正儀)
高速,高靈敏度能譜分析:探針電流×10倍
元素面分布更迅速及時(shí)
低濃度元素檢測(cè)
操作簡(jiǎn)化
自動(dòng)圖像對(duì)功能
從樣品制備到觀察分析實(shí)現(xiàn)無(wú)縫連接
樣品桿與日立聚焦離子束系統(tǒng)兼容
配有各種選購(gòu)件可執(zhí)行各種評(píng)估和分析操作
同時(shí)獲取和顯示SE&BF, SE&DF, BF&DF, DF/EDX面分布(*) 和DF/EELS面分布(*)圖像。
低劑量功能(*)(使樣品的損傷和污染程度降至zui低)
高精度放大校準(zhǔn)和測(cè)量(*)
實(shí)時(shí)衍射單元(*)(同時(shí)觀察暗場(chǎng)-掃描透射電子顯微鏡圖像和衍射圖案)
采用三維微型柱旋轉(zhuǎn)樣品桿(360度旋轉(zhuǎn))(*),具有自動(dòng)傾斜圖像獲取功能。
ELV-3000即時(shí)元素面分布系統(tǒng)(*)(同時(shí)獲取暗場(chǎng)-掃描透射電子顯微鏡圖像)
(*) 選購(gòu)件

技術(shù)指標(biāo)
HD-2700球差校正掃描式透射電子顯微鏡

項(xiàng)目

描述

圖像分辨率

w/o球差校正儀

保證 0.204nm(當(dāng)放大倍數(shù)為4,000,000時(shí))
w球差校正儀保證 0.144 nm(當(dāng)放大倍數(shù)為7,000,000時(shí))(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭)
保證 0.136nm(HAADF圖像)
保證0.105 nm(通過(guò)FFT)(當(dāng)放大倍數(shù)為7,000,000時(shí))(高分辨率鏡頭(*))
放大倍數(shù)100倍 至 10,000,000倍
加速電壓200 kV, 120 kV (*)
成像信號(hào)明場(chǎng)掃描透射電子顯微鏡:相襯圖像(TE圖像)
暗場(chǎng)掃描透射電子顯微鏡:原子序數(shù)襯度圖像(Z襯度圖像)
二次電子圖像(SE圖像)
電子衍射(*)
特征X射線分析和面分布(能譜分析)(*)
電子能量損失譜分析和面分布(EV3000)(*)
電子光學(xué)系統(tǒng)電子源肖特基發(fā)射電子源
冷場(chǎng)致發(fā)射器(*)
照明透鏡系統(tǒng)2-段聚光鏡鏡頭
球差校正儀(*)六極鏡頭設(shè)計(jì)
掃描線圈2-段式電磁感應(yīng)線圈
原子序數(shù)襯度收集角控制投影鏡設(shè)計(jì)
電磁圖像位移±1 μm
試片鏡臺(tái)樣品移動(dòng)X/Y軸 = ±1 mm, Z軸 = ±0.4 mm
樣品傾斜單軸-傾斜樣品桿:±30°(標(biāo)準(zhǔn)鏡頭), ±18°(高分辨率鏡頭(*))
真空系統(tǒng) 3個(gè)離子泵,1個(gè)TMP
極限真空10-8 Pa(電子槍?zhuān)? 10-5 Pa(樣品室)
圖像顯示個(gè)人電腦/操作系統(tǒng)PC/AT兼容, Windows® XP
監(jiān)視器19-inch液晶顯示器面板
圖像幀尺寸640 × 480, 1,280 × 960, 2,560 × 1,920 象素
掃描速度快掃,慢掃(0.5至320秒/幀)
自動(dòng)數(shù)據(jù)顯示記錄序號(hào),加速電壓,下標(biāo)尺,日期,時(shí)間

 



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