ZEISS XENOS工業(yè)CT測量機

應用案例

XENOS可在各類要求高測量精度的領(lǐng)域使用——從科研機構(gòu)的測量實驗室、航天工業(yè)直至光學工業(yè)。這一測量機的測量精度達到技術(shù)極限，其測量范圍近1立方米。

ZEISS XENOS工業(yè)CT測量機

創(chuàng)新的機械設計

XENOS采用了全新的機械設計理念。與標準橋式測量機不同：Y導軌分布于側(cè)壁頂部，分離式移動行程軸僅橫梁于Y軸方向移動，更小及恒定的移動重量——與移動式平臺相比堪稱真正的優(yōu)勢。更低及恒定的移動重量造就了加速及高速的*統(tǒng)一。

所有軸均采用線性驅(qū)動

XENOS的所有軸均采用線性驅(qū)動。其優(yōu)點：高速、加速極快、定位精度高、驅(qū)動無剪切力影響。結(jié)合超高分辨率光柵尺技術(shù)，XENOS的線性驅(qū)動可獲得高度穩(wěn)定性及低于100納米的*定位精度。例如，測針偏移量越恒定，即可獲得更佳的測量精度。于測量曲面時更顯見另一優(yōu)勢：測針的移動路徑與預定值越吻合，即可實現(xiàn)越出色的準確性。

虛擬*驅(qū)動

XENOS于Y軸向配備雙線性驅(qū)動系統(tǒng)，得益于蔡司的*驅(qū)動技術(shù)可實現(xiàn)優(yōu)異的同步控制。該技術(shù)可據(jù)X軸位置*分布驅(qū)動力。作為控制系統(tǒng)及算法之*結(jié)合，這是在整個測量范圍內(nèi)獲得優(yōu)異的測量精度及運動穩(wěn)定性的關(guān)鍵因素。

碳化硅陶瓷

XENOS在與精度密切相關(guān)的機器部件上采用創(chuàng)新的碳化硅陶瓷材料。迄今為止，該材料從未在類似產(chǎn)品或精度的測量機器上得到使用。與常規(guī)陶瓷相比，碳化硅陶瓷的熱膨脹性降低約50%，而剛性則可提升30%，同時減重20%。與鋼材相比，碳化硅陶瓷重量降低50%而竟仍可獲得兩倍的剛性。

加強型VAST gold

XENOS采用蔡司VAST gold測量探頭。在研發(fā)過程中，蔡司在測量精度和測量重復度方面對該探頭進行了優(yōu)化。XENOS也采用了新型剛性連接。VAST gold探頭可與長度可達800毫米的測針以及重量高達500克的測針配套使用，包括非對稱型測針。

優(yōu)化的氣浮軸承

全新強化處理氣浮軸承具有優(yōu)異的穩(wěn)定性及測量精度。

改進的電子設計

通過全新的電子設計，移動線纜對精度影響顯著降低。計算機輔助精度修正（CAA）法和特殊附加CAA修正技術(shù)在獲得高測量精度的過程中扮演著日趨重要的作用。
 

長度測量誤差E0

0.3 L/1,000 μm

測量范圍