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詳細介紹
XAU系列能量色散X熒光光譜分析儀，是一款配備SDD探測器的高效率鍍層測厚儀！
此款產(chǎn)品可適用于固體和液體的含量檢測，用于液體中高含量金屬成分的檢測，滿足高測試精度和高準確度。
搭配微聚焦X射線發(fā)生器和*的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，可測試極微小和異形樣品。
含量分析檢出限低1ppm，可檢測鍍層厚度0.005um ，小測量面積0.04mm² · 凹槽深度測量范圍可達0至30mm，特殊要求可達90mm。
外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動，移動精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都可輕松操作。
| 能量色散X熒光光譜分析儀技術(shù)參數(shù)： |
| 1.探測器：半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測器 |
2.探測器分辨率：130±5ev |
| 3.涂鍍層分析范圍：各種元素及有機物 |
| 4.可一次性同時分析：23層鍍層，24種元素 |
| 5.小測量面積：0.04mm² |
| 6.對焦距離：0-30mm，特殊要求可達90mm |
| 7.樣品腔尺寸：500mm×360mm×215mm |
| 8.儀器尺寸：550mm×480mm×470mm |
9.儀器重量：45kg |
| 儀器配置： |
| 1.微焦X射線發(fā)生器 |
| 2.光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng) |
| 3.高敏變焦測距裝置 |
| 4.半導(dǎo)體冷卻硅漂移SDD探測器 |
| 5.*的數(shù)字多道分析 |
| 6.高精度微型移動滑軌 |
| 7.標準片Ni/Fe 5um |
| 8.標準片Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
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