XTD(B)鍍層測厚儀專業表面處理檢測解決方案：    XTD系列測厚儀，于檢測各種異形件，特別是五金類模具、衛浴產品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。    儀器優點：    1. 分析精度*    2. 分析范圍廣泛 

儀器優點：

1. 分析精度高

2. 分析范圍廣

3. 微區定位準

4. 操作簡單快捷

5. 結果可靠準

XTD(B)鍍層測厚儀性能優勢：

1.*的EFP算法：多層多元素、各種元素及有機物，甚至有同種元素在不同層也可準測量。

2.上照式設計：實現可對超大工件進行快、準、穩高效率測量。

3.自動對焦：高低大小樣品可快速清晰對焦。

4.變焦裝置算法：可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。

5.小面積測量：小測量面積0.04mm²

6.大行程移動平臺：手動XY滑臺100*150mm，自動XY平臺210*260mm.

專業的研發團隊在Alpha和Fp法的基礎上，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優化迭代開發出EFP核心算法，結合*的光路轉換技術、變焦結構設計及穩定的多道脈沖分析采集系統，只需要少量的標樣來校正儀器因子，可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。