XTU-BL X熒光光譜儀性能優(yōu)勢(shì)：

下照式設(shè)計(jì)：快速方便的定位各種形狀的樣品，滿足一切測(cè)試所需。

無損變焦檢測(cè)：擁有手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-30mm。

微聚焦射線裝置：可測(cè)試各微小的部件，小檢測(cè)面積可達(dá)0.002mm²。

高效率的接收器：在檢測(cè)0.01mm²以下的樣品時(shí)，幾秒鐘也可達(dá)到穩(wěn)定性。

EFP*算法軟件：可檢測(cè)單鍍層，多鍍層，多元合金，甚至對(duì)于同種元素在不同層的厚度檢測(cè)也能分析，包括輕金屬鍍層，非金屬鍍層，達(dá)克羅，Nip鍍層測(cè)試，包括Ni與P的比例也均可檢測(cè)。

準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用。

新一代高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率。

高效的散熱系統(tǒng)：對(duì)流通風(fēng)過濾式風(fēng)冷，儀器即便全天候開啟，都可保持恒溫恒效。

防護(hù)裝置：恒壓恒流快門式光閘，擁有高壓電源緊急自鎖功能，帶給您的防護(hù)。

XTU-BL X熒光光譜儀技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量元素范圍：CI(17)-U(92)

涂鍍層分析范圍：Li(3)-U(92)

分析軟件：EFP，可同時(shí)分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素和有機(jī)物厚度也可分析

測(cè)試程式添加：1862條測(cè)試程式免費(fèi)提供，也可編輯新程式

軟件操作：人性化封閉軟件，自動(dòng)提示校正和步驟，避免操作錯(cuò)誤

X射線裝置：升壓發(fā)射一體高分子聚合式W靶微聚焦加強(qiáng)型射線管