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蘇州諾威特測控科技有限公司
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芯片老化測試箱用于對封裝好的電路進行可靠性測試（ReliabilityTest），它的主要目的是為了檢出早期失效的器件，稱為InfantMortality
芯片老化測試箱用于對封裝好的電路進行可靠性測試（Reliability T e s t ） ， 它的主要目的是為了檢出早期失效的器件，稱為Infant Mortality。并進行失效機理分析，以便找出失效原因。
產品特點
針對MEMORY、LOGIC、ASIC等產品的可靠性測試需求而設計; 針對各大晶圓廠、芯片設計公司實驗室少量多樣化，空間小的特殊需求，采用 獨立的BY BOARD TG設計，每個SLOT都可單獨使用，以提高效率; 專有的FLASH MEMORY(NAND、NOR、SPI)，DDR MEMORY指令讓程序開發更加快速高效;
DC POWER 采用高精度、高穩定性的可編程直流電源;
DUT POWER 采用三級供應方式，以達到的穩定性和可靠性; 便捷的WINDOWS平臺、USB通訊、具有*的系統兼容性;
技術參數
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