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詳細摘要： 正置金相顯微鏡光學系統：無限遠色差校正光學系統（CSIS），像質更好，分辨率更高，觀察更舒適；

詳細摘要： 正置透反射金相顯微鏡用于觀察和測量各種顯微結構，如金屬、巖相、陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層、顆粒大小等。

詳細摘要： 便攜式現場金相顯微鏡是用于現場多種大型工件的金相檢查、失效分析的顯微鏡。它不用切割取樣，直接在工件上打磨、拋光，從而保證工件的完整性。

詳細摘要： 高級正置金相顯微鏡集成了明場、暗場、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，可根據實際應用，進行功能選擇。