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武漢普賽斯儀表有限公司


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LDO芯片電學特性測試數字源表

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參   考   價: 10000

訂  貨  量: ≥1 臺

具體成交價以合同協議為準

產品型號S300型

品       牌其他品牌

廠商性質生產商

所  在  地武漢市

聯系方式:陶女士查看聯系方式

更新時間:2021-06-18 10:50:31瀏覽次數:419次

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經營模式:生產廠家

商鋪產品:40條

所在地區:湖北武漢市

聯系人:陶女士 (銷售專員)

產品簡介
測量范圍 300mV-300V/100nA-1A 測量精度 0.01
外形尺寸 425*255*106mm 用途 分立半導體器件,傳感器,太陽能電池,納米材料,有機材料
重量 5kg 測試范圍 0.3mV-300V/100nA-1A
測試精度 0.1% Z大輸出功率 30W

LDO芯片電學特性測試數字源表找武漢生產廠家普賽斯儀表,普賽斯S系列高精度源表,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產品Z大輸出電壓達300V,最小測試電流量程低至100pA,支持四象限工作,因此,可廣泛應用于LDO類芯片測試。

詳細介紹

 

LDO芯片電學特性測試方案

  1. 概述

    LDO,全稱為“Low Dropout Regulator,是一種低壓差線性穩壓元器件其工作原理為,使用在其飽和區域內運行的晶體管或場效應管(FET),從應用的輸入電壓中減去超額的電壓,產生經過調節的輸出電壓。相比于傳統的DC-DC變換器,LDO具有成本低,噪音低,靜態電流小的特點,需要的外接元件也很少,因此,LDO廣泛應用于需要穩壓輸出的場景。

                            UTC78XX系列LDO封裝以及內部電路示意圖

  2. 數字源表,SMU(Source Measure Unit)電源/測量單元,“源”為電壓源和電流源,“表”為測量表,“源表”即指一種可作為四象限的電壓源或電流源提供精確的電壓或電流,同時可同步測量電流值或電壓值的測量儀表。普賽斯S系列高精度源表,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產品Z大輸出電壓達300V,最小測試電流量程低至100pA,支持四象限工作,因此,可廣泛應用于LDO類芯片測試。

     

     

  3. 常用電性能參數測試

    LDO常用的電性能參數測試,主要包括輸出電壓、輸入輸出電壓差線性調整率、負載調整率、靜態電流等。由于LDO的測試需要分別采集輸入與輸出端的數據,因此一般情況下,測試系統至少需要配置2臺SMU,并采用上位機軟件(PssSMUTools)進行控制。(以下測試均參考UTC7805規格進行)

     

    二線法連接示意圖

     

     

    四線法連接示意圖) 

     

     

  4. 測試方案

  5. Vo輸出電壓測試

    Vo輸出電壓,是LDO在正常工作穩定輸出電壓值。當加載在LDO輸入端的工作電壓,在規定范圍內變動時LDO的輸出電壓Vo穩定在特定范圍內。常用測試方法為,在LDO的輸入端,加載穩定變化的電壓,同時測量對應的輸出端電壓值。一般采用二線法連接即可。(參考UTC7805規格書,其規格參數5V左右)

    操作步驟

步驟

操作方法

操作界面

選擇測試模式

在上位機軟件內,選擇【晶體管】—>【MOS管測量】

 

 

設置SMU參數

根據實際測試需要,分別設置SMU的參數。比如【起始值】,【限值】,【掃描點數】等。其中,SMU 1的主要作用是,作為輸入電壓源,而SMU 2則作為電壓表

 

啟動測試

點擊運行圖標“”,即可啟動測試

/

測試數據

待測試完畢后,分別點擊【表格】,【圖形】,可查看相應的數據與圖形

 

 
  • Voi輸入輸出電壓差,ΔVo線性調整率測試

    Voi輸入輸出電壓差,是LDO正常工作時輸入端與輸出端的最小電壓差值。ΔVo線性調整率是輸入電壓變化后對輸出電壓造成的影響。常用測試方法為,在LDO的輸入端,加載穩定變化的電壓,同時測量對應的輸出端電壓值,并計算兩端電壓測差值,或者輸出端的變化值。此外,為降低測試中線材的干擾,輸入輸出電壓差測試可采用4線連接法進行測量。(參考UTC7805規格書,Voi值為2V左右,ΔVo值為4mV左右)

    操作步驟

步驟

操作方法

操作界面

選擇測試模式

在上位機軟件內,選擇【晶體管】—>【MOS管測量】

 

 

設置SMU參數

根據實際測試需要,分別設置SMU的參數。比如【起始值】,【限值】,【掃描點數】等。其中,SMU 1的主要作用是,作為輸入電壓源,而SMU 2則作為電壓表

 

啟動測試

點擊運行圖標“”,即可啟動測試

/

測試數據

待測試完畢后,分別點擊【表格】,【圖形】,可查看相應的數據與圖形

 

 
  • ΔVoload負載調整率測試

    ΔVoload負載調整率是輸出端接不同負載,輸出端電壓的變化。由于源表可以直接當電子負載,所以可以直接讓源表做負載。常用測試方法為,保持LDO輸入端電壓穩定不變,在LDO的輸出端,加載不同的電流值,同時測量對應的輸出端電壓值,并計算輸出端的電壓變化值。此外,為降低測試中線材的干擾,該測試可采用4線連接法進行測量。(參考UTC7805規格書,ΔVoload值為4mV左右)

    操作步驟

步驟

操作方法

操作界面

選擇測試模式

在上位機軟件內,選擇【晶體管】—>【MOS管測量】

 

 

設置SMU參數

根據實際測試需要,分別設置SMU的參數。比如【起始值】,【限值】,【掃描點數】等。其中,SMU 1的主要作用是,作為穩定的輸入源,而SMU 2則作為負載,同時測量負載兩端的電壓。

 

啟動測試

點擊運行圖標“”,即可啟動測試

/

測試數據

待測試完畢后,分別點擊【表格】,【圖形】,可查看相應的數據與圖形。根據測試需要,設置不同的輸出電流參數,進行多次測試。

 

 
  • IQ靜態電流測試測試

    IQ靜態電流,是指輸出端空載時,輸入端流進的電流。常用測試方法為,斷開LDO的輸出端的連接,加載不同的電流值,在LDO輸入端加載電壓,并測量對應的輸入端電流值。(參考UTC7805規格書,IQ值為5mA左右)

     

    連接示意圖

    操作步驟

步驟

操作方法

操作界面

選擇測試模式

在上位機軟件內,選擇【數據記錄儀】

 

 

設置SMU參數

根據實際測試需要,分別設置SMU的參數。比如【起始值】,【限值】,【掃描點數】等。

 

啟動測試

點擊運行圖標“”,即可啟動測試

/

測試數據

待測試完畢后,分別點擊【表格】,【圖形】,可查看相應的數據與圖形。

 

 

以上是關于LDO芯片電學特性測試數字源表的信息,更多有關S系列LDO芯片電學特性測試數字源表的信息找武漢生產廠家普賽斯儀表


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