E+H雷達物位計FMR57-AAACCABDA6CHJ1 FMR51-AACCCABCD2CRJ+AK

測量條件• 出現沸騰表面、起泡表面或易生成泡沫液面時，使用FMR53 或FMR54 測量。根據泡沫的具體
成份，泡沫可以吸收微波，或微波在泡沫表面發生發射。在特定條件下測量仍可進行。使用
FMR50、FMR51 和FMR52 測量時，建議選擇附加選項“高級動態響應” (訂購選項540：“應用
軟件包 ”，選型代號：EM)。
• 出現嚴重蒸汽或冷凝現象時，FMR50、FMR51 和FMR52 的大測量范圍可能會減小，取決于
蒸汽的密度、溫度和成份→使用FMR53 或FMR54 測量。
• 測量吸附性氣體(例如：氨氣NH3)或部分碳氟化合物 4)，請使用Levelflex 或Micropilot FMR54
在導波管中測量。
• 波束射至罐底的位置即為量程起點。特別是在圓盤底罐或帶錐形出料口的罐體中，物位低于此
點，便無法測量。
• 在導波管中測量時，電磁波不會*擴散至導波管外部，應將零點設置在導波管底部。在C 范
圍內測量時，測量精度將降低。為了確保此類應用場合中所需的測量精度，建議將零點設置在
導波管底部上方的C (如圖所示)。
• 測量低介電常數的介質時(εr = 1.5…4) 5)， 如果介質處于較低物位(低于C)，罐底可見。在此范
圍內測量時，精度將降低。如無法接受，在此類應用場合中，建議將零點設置在罐底上方的C
(如圖所示)。
• 理論上，大可測量至FMR51、FMR53 和FMR54 天線末端。但是，考慮腐蝕和粘附的影響，
大量程與天線末端間的距離不得小于A(如圖所示)。
• 使用帶平面天線的FMR54 測量時，特別是測量低介電常數的介質時，大量程與法蘭間的距離
不得小A：1 m (3.28 ft)。
• 小測量范圍B 取決于天線類型(如圖所示)。
• 罐體高度應至少為H (參考下表)。

E+H雷達物位計FMR57-AAACCABDA6CHJ1 FMR51-AACCCABCD2CRJ+AK

液位測量
應用
• 液體、漿料和泥漿的連續、非接觸式液位測量
• PVDF 或PP 全密封喇叭天線
• 大測量范圍
• 溫度
• 壓力
• 測量精度
• 防爆認證；WHG；船級認證
• 線性協議(三點、五點)
優勢
• 介質類型和過程條件改變時，仍可進行可靠測量
• 數據管理，便于調試、維護和診斷
• 多路回路跟蹤確保高可靠性
• 認證，符合IEC 61508 標準；同構冗余或異構冗余系統的安全等級可達
• 無縫集成至控制系統或資產管理系統中
• 本國語言顯示的直觀用戶界面
• 符合SIL 和WHG 要求的簡便的功能驗證