標準磁探試片M1型
M1型試片用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏片），及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規程。
規格：φ12（7/50）、φ9（15/50）、φ6（30/50）。2片/套。
標準磁探試片D1型
D1型試片用于檢驗磁粉探傷設備、磁粉和磁懸液的綜合性能（系統靈敏度），及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場強度以及考察所采用的探傷工藝規程。
規格：15/50、7/50、30/50三種規格，適用于有曲率的探傷面，6片/套。
尺寸：10×10mm，厚度為50μm。
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