超低硅分析儀產品特點：
   靈敏：高選擇性檢測硅元素，檢測限達到0.6 ppm，是針對硅元素靈敏的X射線熒光光譜儀
   穩定：XFS（X-Ray Fixed System）技術，光路工廠精密調諧后，不再產生位移或偏差，大限度的保證了儀器的*穩定性。
5 ppm汽油樣品，*測試RSD值小于7%
   快速：單個樣品準備時間小于10 s；單個樣品分析時間長1000 s；開機10 min內即可測試樣品
   經濟：單個樣品消耗小于4元/樣品，無氣體、溶劑等消耗
   方便：使用ESP：Easy Sample Prepare裝置，使得樣品杯與膜成型變得簡單；長時間使用無硬件更換；無需經常校正標準曲線
性能指標：
          檢出限：0.6 ppm（異辛烷基體中硅）
          準確度：2±0.6 ppm,5±0.8 ppm，10±1 ppm
          穩定性：5 ppm標樣連續測試15次，RSD值10%以；同臺儀器15天以內測試（每天兩次），RSD值15%以內
          線性：0、1、2、5、10、50 ppm硅標樣，線性99.9%以上
          測試時間：500 s—1000 s
超低硅分析儀應用領域：
        汽油、柴油樣品中硅含量分析，煉油企業催化劑中硅含量分析，液體或固體中硅含量分析。

汽油在煉制過程中使用了含硅的試劑或催化劑，這些硅化合物在汽車發動機中無法*燃燒，時間一長硅的沉積物會造成氧氣傳感器失效等故障，因此汽油中硅元素的檢測被列入

國家標準制定范圍之列。
 針對硅元素的檢測儀器，主要有ICP和XRF兩種方法，相比于ICP方法，XRF方法使用方便，無需專業經驗人員即可操作使用，單波長色散X射線熒光光譜儀（MWD XRF）更具有高靈敏

度以及*穩定性等特點，是輕松應對超低硅含量分析的利器。

依賴高通量雙向曲面彎晶核心技術，進一步提升制造工藝，保證光路系統的精密度，DUBHE-1430成為世界上真正能夠將硅檢出限降低到1 ppm以內的X射線熒光光譜儀。
     
ICP與MWD XRF（DUBHE-1430）比較表