Prime™ X采用了512 × 58 像元CCD 陣列檢測器(標準), 也可選配1024 像元檢測器。它還采用了光纖耦合輸入，內建16位數字轉換，包含外觸發端口和高速USB2.0數據接口。
光纖光譜儀Prime X
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| Prime™ X是B&W Tek推出的高性能TE致冷背照式CCD光譜儀。Prime™ X采用了薄型背照式CCD，量子效率（QE）超過絕大多數前照式線性CCD的30%多。它還采用了TE半導體致冷至-10℃，能夠顯著降低暗噪聲，增大動態范圍。由于具備更寬的動態范圍、更高的信噪比、更低的噪聲水平以及更長時間工作的穩定性，Prime™ X已經成為的紫外到近紅外光譜應用的理想選擇。 Prime™ X采用了512 × 58 像元CCD 陣列檢測器（標準）, 也可選配1024 像元檢測器。它還采用了光纖耦合輸入，內建16位數字轉換，包含外觸發端口和高速USB2.0數據接口。 Prime™ X可提供客戶定制服務，滿足更多光譜分析應用需求和OEM客戶的特殊要求。 
特點： • 峰值處量子效率>90% • 200nm處量子效率超過60% • 紫外，可見，近紅外增強響應 • 512或1024像元背照式檢測器 • -10℃TE致冷 • 快門可選 應用： • 紫外，近紅外微光光譜檢測 • 拉曼和熒光光譜 • 遙感測量 • DNA 排序 • 半導體檢測 • LED 分揀與檢測 • LCD 顯示設備檢測 技術參數： | 檢測器類型 | 背照式CCD陣列檢測器 | | 像元數 | 512 元@ 24µ m × 1392µ m （24×58）
1024 元@ 24µ m × 1392µ m （24×58） | | 光譜儀F# | 3.5 | | 光譜儀光路 | Crossed Czerny-Turne | | 動態范圍 | 75,000:1 | | 數字分辨率 | 16-bit 或 65,535:1 | | 讀出速度 | 250 kHz | | 數據傳輸速度 | 高于50譜/秒（USB 2.0） | | 積分時間 | 27 - 65,535ms（512）
50 - 65,535ms（1024） | | 外觸發 | Aux Port | | 操作溫度 | 0-35℃ | | TE致冷 | -10℃ | | 重量 | 光譜儀: 1.4 kg
電源模塊: 0.9 kg | | 尺寸 | 光譜儀: 107 mm ×178 mm ×89mm
電源模塊: 249mm × 169mm × 57mm | | 計算機接口 | USB 2.0 / 1.1 | | 操作系統 | Windows XP, Vista （32-bit）, Win 7 | | | |
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