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上海斯邁歐分析儀器有限公司
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Agilent 7700x/7800 ICP-MS在飲用水分析中的優勢
2023-2-4 閱讀(77)
引言：Agilent 7700x/7800 系列 ICP-MS 八極桿反應池系統 (ORS) 將碰撞/反應池(CRC) 技術應用于飲用水中痕量金屬元素的環境分析中。ORS 經過優化后顯著改善了氦碰撞模式消除多原子干擾的的性能。He 模式具有簡單、普遍適用的特點，使 7700x/7800 ICP-MS 在一套條件下就能夠消除所有多原子干擾，不需要事先了解任何關于樣品的組成方面的情況，不需要任何復雜的數學校正。其結果是易于設置、降低了檢出限、加快了分析速度、改善了干擾消除能力，尤其是對于那些棘手的來自等離子體的影響鐵和硒的干擾。現在，氦模式中硒的檢出限通常小于 20 ppt。
更好的靈敏度，更好的準確度，更好的動態范圍除更高效的碰撞/反應池之外，7700x/7800 ICP-MS 還采用了改進的離子透鏡與全新檢測器，因此與前代 ICP-MS 相比具有更高的靈敏度與更低的背景。對于常規的水樣分析，無論是干凈的市政井水還是高總溶解固體 (TDS) 的礦物質水，都不需要特殊的調諧和最佳化。所有儀器最佳化全部自動完成，包括全新的一次點擊式等離子體設置 (One-clickPlasma Setting) 功能進行快速自動等離子體設置，更快更為重現的自動調諧功能（專家自動調諧 Expert AutoTune）。2圖 1 是 7700x ICP-MS 得到的典型的校準曲線。為了穩定Ag、Sb 和 Hg，所有校準標準都含 1% HNO3 和 0.5% HCl。ICP-MS 中為了避免 Cl 基對 As、Se、Cr 和 V 的干擾，通常不使用 HCl 的，但 ORS 不用使用氫氣或其它反應氣體，直接用氦模式能夠消除這類干擾。3.7 ppt 的 V 的背景相當濃度值 (BEC) 證明了 7700x 在氦模式時有效消除了 ClO+ 對51 質量的干擾。這種干擾采用其他手段是很難消除的，通常需要高反應池氣體，比如 NH3 或 NH3/He，而這些氣體不適合于多元素分析的。
代表性 ppt 方法檢出限（MDLs，低校準標準 10 次重復測定的 3 sigma）列于表 1。這些 MDLs 不是在高度最佳化條件下得到的，使用的是缺省的 One-click Plasma Setting常規耐用性等離子體條件測定 (CeO+/Ce+ < 1%)。7700x/7800 ICP-MS 的高靈敏度意味著該儀器可以很容易實現水樣中痕量級污染物的準確分析，而且，內置的高基質進樣 (HMI) 系統能確保長時間分析高基質樣品時的上好耐用性及長期穩定性。本工作對一組飲用水樣品、兩個高TDS 礦物質水（樣品 A，TDS 為 109 mg/L；樣品 B，TDS3為 309 mg/L）、NIST 1643e 參考水樣（稀釋 1/10）連續分析了 11 個小時。分析程序包括 USEPA 法定的連續校準確認以及連續校準空白樣品（CCVs 和 CCBs），總測定數為 190 個，每個樣品的平均分析時間不到 3.5 分鐘。圖 2是整個采集期間所有方法分析元素的 CCV 回收率曲線。沒有一個元素的 CCV 超出 USEPA l 規定的 ± 10% 限（紅色）。表 2 列出了分析程序中對 NIST 1643e（1/10 稀釋，以測試低含量的靈敏度和精密度）的 28 個分析元素的平均回收率和相對標準偏差。
結論Agilent 7700x/7800 ICP-MS 將八級桿反應池系統 (ORS)、離子透鏡和檢測器結合，能夠測定飲用水中規定濃度下的所有監管元素，不需要反應池氣體或復雜的干擾校正公式。數據質量絕對可靠，分析效率顯著提高。7700x/7800 具有較寬的操作動態范圍，集成的 HMI 系統為高基質樣品提供了耐受性。此外，無論是飲用水分析還是那些較為復雜的環境樣品比如土壤和淤泥，其所用的最佳化條件都一樣簡單，這就消除了儀器只能使用反應池氣體所需的樣品特殊最佳化需求。
